二手 PHILIPS / FEI Inspect F50 #9239425 待售

PHILIPS/FEI Inspect F50是一種掃描電子顯微鏡（SEM），使用戶能夠在微觀和納米尺度上對樣品進行高分辨率成像和分析。該SEM具有廣泛的功能和功能,可提供精確的結果。FEI Inspect F50有場發射槍，產生高品質的電子束，穩定性提高，允許更高解析度的影像，同時將營運成本降至最低。電子柱的像差校正使使用者在獲得其標本的驚艷圖像的同時，也提高了景深和整體圖像清晰度。二次電子探測器具有三維反向散射探測器陣列，具有較大的景深和優異的分辨率，特別適用於表面分析。飛利浦Inspect F50還配有高度先進的計算機系統，具有快速處理器和專用顯卡，以及大量的RAM和存儲空間。這樣可以更快地從模擬器獲取圖像和組織數據。此外,Inspect F50還提供卓越的樣品處理和成像功能。其鏡頭內自動舞臺支持尺寸可達100毫米的樣品,分辨率可降至1 Ångström。自動化階段還能夠處理許多樣品，並對樣品的加載、定位和跟蹤進行精確控制。PHILIPS/FEI Inspect F50還配備了微觀數碼相機和集成微探針，用於掃描樣品和收集納米尺度的圖像。最後，FEI Inspect F50還提供了一整套用戶友好的軟件工具，用於圖像處理和SEM數據分析。其中包括用於創建三維圖像的工具,以及自動測量和3D曲面分析。PHILIPS Inspect F50是一款先進、功能強大的掃描電子顯微鏡,提供精密的成像和分析功能,具有卓越的分辨率、樣品處理和控制能力。其廣泛的特性、功能和用戶友好的軟件工具提供了微型和納米級成像和分析樣品的終極平臺。