二手 PHILIPS / FEI Nova 600 #9197165 待售

PHILIPS/FEI Nova 600掃描電子顯微鏡（SEM）是一種高分辨率成像和分析儀器，設計用於樣品的超高分辨率檢查和分析。它能夠識別到納米級以下的表面特征，並提供半導體和其他納米級結構的高分辨率圖像。該設備由一個焦化二次電子（SE）檢測器、一個帶靜電槍進行電子束操縱的電子柱和一個樣品級組成。FEI Nova 600還配備了能量色散X射線（EDX）光譜檢測器，允許對樣品進行定性和定量的元素分析。飛利浦NOVA600中的電子槍能夠產生各種電子束電壓和電流密度。這使系統能夠從小至1 nm的曲面特征生成高分辨率圖像。光束操作單元的工作原理是使x和y平面中的電子束以柵格模式偏轉,從而能夠定位樣品上的表面特征。NOVA600的樣本階段能夠在所有三個軸上移動-x、y和z。這使SEM能夠掃描整個樣本以獲得樣本曲面的精確3 D映射。這在樣本的地形中提供了很大程度的詳細信息,並有助於準確識別某些邊緣和形狀在樣本表面上的位置。該機還具有自動化功能，以幫助優化圖像分辨率和精細特性的對比度。其中包括用於優化總體圖像質量的降噪和用於控制樣本表面不同區域中樣本焦深的動態焦點。最後，PHILIPS Nova 600配備了二次電子探測器和EDXSpectroscopy探測器。二次電子探測器的設計是利用樣品發射的電子來優化樣品的對比度和分辨率。EDXSpectroscopy能夠對樣品進行定量元素分析,並對樣品表面存在的元素進行定性鑒定。總之，PHILIPS/FEI NOVA600掃描電子顯微鏡是一種非常強大的成像和分析儀器。通過提供納米級的超高分辨率成像和元素分析功能,該工具允許對樣品進行高度詳細的檢查。自動化特征和光束操作資產還提供了樣本地形的精確3 D地圖,從而可以精確測量表面特征和形狀的位置。