二手 PHILIPS / FEI Phenom 3950 #293652975 待售

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ID: 293652975
Scanning Electron Microscope (SEM).
PHILIPS/FEI Phenom 3950是一款屢獲殊榮的掃描電子顯微鏡,提供獨特的成像解決方案。這個儀器包含了幾個設計特點,使它能夠提供樣品表面的非常詳細的圖像。FEI Phenom 3950利用傳統和先進技術實現卓越的成像。針對快速和高分辨率圖像優化了SEM成像。在工程設計方面,飛利浦Phenom 3950配備了精確設計的物鏡,針對SEM成像進行了優化。物鏡設計兩側各有一個特殊的橫截面,以允許最大限度的光線收集和提高圖像分辨率。儀器的集成電子設備使檢測器能夠同時在二次電子和反向散射電子檢測器信號之間交替。這使用戶能夠選擇最合適的檢測模式,同時仍然可以獲得最高的分辨率和對比度。該儀器獲得專利的HybridDetect技術也增加了成像過程中收集的信息內容。Phenom 3950還配備了專門的樣品處理系統。PHILIPS/FEI Phenom 3950上的AutoCollect控制軟件允許用戶執行掃描、成像和剖分過程等操作。以前對儀器進行特定任務編程的能力會降低準確性並提高用戶效率。這也有助於更大的數據集,因為用戶可以指導儀器執行更復雜的測量和成像任務。FEI Phenom 3950是觸摸屏可操作的,增加了其可訪問性和用戶友好性。直觀的圖形用戶界面允許用戶控制所有設置的應用,而自動保存功能則保留數據和高分辨率圖像文件。最後,在PHILIPS Phenom 3950上提供了一個樣品制備模塊,因此用戶可以更好地控制計量過程。綜上所述,Phenom 3950是一款屢獲殊榮的掃描電子顯微鏡,提供獨特的成像解決方案。該儀器采用精確設計的物鏡設計,配備先進的HybridDetect技術,並利用AutoCollect控制軟件進行樣品處理。最後,該儀器是觸摸屏可操作的,可以方便地訪問設置,並有一個樣品準備模塊,以提高用戶的準確性。
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