二手 PHILIPS / FEI Phenom #293605042 待售

PHILIPS/FEI Phenom掃描電子顯微鏡（SEM）是一種高性能、高分辨率的顯微鏡，設計用於成像多種材料和許多應用。通常用於研究從簡單固體到復雜納米結構等多種材料的組成、結構和性質。FEI Phenom結合了強大的蔡司設計電子槍，使用戶能夠獲得納米級的高分辨率圖像。SEM配備了先進的聚焦離子計數檢測器，可在所有模式下提供高對比度成像。所有組件都安裝在堅固可靠的系統中,確保所產生的圖像質量最高。PHILIPS Phenom配備了一個先進的掃描電子光學裝置，它可以快速掃描各種放大倍數的樣品。這些掃描範圍可達20,000倍，高達300,000倍，使得Phenom非常適合研究納米級結構和材料。電子槍還具有掃描多種不同材料的能力，因此可用於研究表面化學、元素組成和化學組成等應用。PHILIPS/FEI Phenom能夠制作具有大量細節的高分辨率圖像,即使高放大倍數也是如此。圖像呈現在平板數字探測器系統上，該系統利用電荷耦合器件（CCD），使用戶能夠快速獲取圖像。CCD對X射線和M射線輻射高度敏感，也能夠有效檢測電子。FEI Phenom配備了用戶友好的軟件界面，允許用戶輕松設置掃描、分析圖像和操縱圖像數據。界面還包括圖像增強、自動分割、背景減法和數據過濾等諸多功能。此外,軟件還提供了直方圖、自相關、傅立葉變換、質量轉換和數據歸一化等綜合分析工具。總體而言，PHILIPS Phenom掃描電子顯微鏡是一種先進的成像系統，非常適合需要大量細節的研究應用。其強大的電子槍、高分辨率的圖像顯示以及廣泛的放大倍數，使其成為研究廣泛材料的絕佳工具，從簡單的固體到復雜的納米結構。這種高性能的掃描電子顯微鏡是一種適合研發需要的理想設備。其強大的設計和用戶友好的軟件界面使其易於設置和操作,從而確保用戶為其研究獲得最高質量的圖像。