二手 PHILIPS / FEI Phenom #293681937 待售

PHILIPS/FEI Phenom Scanning Electron Minccope （SEM）是一種高度先進的成像系統，用於研究各級分辨率的材料樣品。其最先進的SEM功能可提供高放大倍率和卓越的圖像質量,從而實現快速調查、強大的成像和精確的測量。FEI Phenom掃描儀可用於許多不同的應用領域，包括材料科學、半導體、生命科學等等。飛利浦Phenom SEM提供可變放大倍率，最大分辨率為2納米。這使得它成為一系列研究和實驗的理想選擇，包括分析極小的特征和檢測納米級發生的變化。它配備了先進的成像技術集合，包括地形、樣品結構、材料分析等等。Phenom SEM的10納米分辨率也可以讓樣品表面清晰的影像，以及精確測量小粒子尺寸的能力。PHILIPS/FEI Phenom SEM還包括強大的數據管理軟件,允許快速的數據捕獲、分析和審查。它還與各種衍射計系統兼容，使得樣品表征和晶體學測量變得容易可靠。FEI Phenom SEM還配備了強大的自動化階段，允許精確的樣品定位和掃描路徑調整。PHILIPS Phenom旨在為研究人員提供直觀和可定制的工具，以最大限度地完成圖像任務並執行高級處理。Phenom SEM每秒可處理多達64幀,其高掃描速度、低噪聲地板和最小化的圖像偽像使其成為高吞吐量應用的理想選擇。該系統產生的高質量圖像確保了可靠的結果，使實驗者能夠對他們的發現充滿信心。