二手 PHILIPS / FEI Phenom #293802174 待售

PHILIPS/FEI Phenom掃描電子顯微鏡（SEM）是一種強大的成像和分析儀器,提供卓越的分辨率和多功能性。FEI Phenom在樣品制備、成像、分析和3D重建方面提供無與倫比的性能。飛利浦Phenom是最先進的掃描電子顯微鏡之一，提供高分辨率成像和3D重建。Phenom有Ultrafast Signal Acquisition （USA）系統。該系統在不影響圖像質量的情況下縮短了圖像采集時間，提供了卓越的3D重建能力。PHILIPS/FEI Phenom提供兩種檢測器：SE檢測器，提供出色的分辨率和對比度；鏡頭內SE檢測器，提供出色的表面地形和關於裂紋、汙染和具有低原子序數元素特征等小特征的信息。FEI Phenom具有多種影像分析能力。它可以執行自動移位聚焦和重叠場的縫合，這樣可以實現高達2.25mm x 2.25mm的大面積成像。PHILIPS Phenom還具有EDS（能源色散光譜）功能,可以進行元素分析。這是通過利用樣品的特征X射線排放來測量存在的元素水平來實現的。Phenom在SE模式下的最小空間分辨率為1納米（1nm），在STEM模式下為10-20nm分辨率。PHILIPS/FEI Phenom還具有收集相位對比圖像的能力。這是通過利用電子與樣品相之間的相互作用來產生對比度，從而產生更高的分辨率，並能夠對非導電材料進行成像。此外,FEI Phenom還具有對較大特征執行3D重建的能力。這是通過使用掃描階段以精確的位置精度堆叠多個圖像來完成的。然後,使用專用軟件執行堆棧圖像的3D渲染,並允許對樣本進行精確的3D視圖和測量。飛利浦Phenom是市場上功能最強大、用途最廣泛的SEM之一，被業界、政府和研究機構用於最先進的成像和分析需求。