二手 PHILIPS / FEI Phenom #9202448 待售

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ID: 9202448
優質的: 2009
Scanning electron microscope (SEM) P/N: FP 3950/00 Imaging: High brightness Long-life electron source Superior to tungsten SEMs High resolution desktop SEM: Up to 20,000x Resolution: <30 nm Minimum field of view: 12 um Electron optical range: 24000x Digital zoom: 12x Equipped with color camera Included: Manual control interface Mouse joystick Standard sample holder Pfeiffer vacuum Power supply User manual 2009 vintage.
PHILIPS/FEI Phenom是一種掃描電子顯微鏡(SEM),提供高分辨率成像和對多種樣品的分析。它將臺式機和半專業SEM的最佳功能結合在一個方便的軟件包中,使用戶能夠快速成像和分析各種材料。FEI Phenom利用最新的成像技術,配有高清光學系統和電子槍進行精確詳細的成像。它配備了單色和多通道兩種像素類型,在圖像中創建更清晰的細節。圖像在其集成液晶顯示器上實時顯示。飛利浦Phenom還提供了從10 X到500 X的一系列放大倍率,以適應各種樣品類型和大小。Phenom結合了特殊的標本持有者,以幫助捕捉正在研究的樣本內的獨特行為。這些持有者允許對樣品進行精確操作,以捕獲應變和傾斜等信息,從而對其組成部分進行更詳細的分析。內部電子控制系統確保準確的體積分析和適應所需的成像條件。PHILIPS/FEI Phenom專為易於使用而設計,允許更集中的研究或實驗室工作。其直觀的界面確保了快速的學習曲線和高效的操作。有一個自動參數設置的選項生成器,允許用戶快速調整成像系統以滿足他們的需求。FEI Phenom專為研究和工業用途量身定制。它的多功能性和易用性使用戶能夠對所有類型的樣本進行快速而準確的分析。它提供了無與倫比的成像和分析能力來探索和評估各種樣本。飛利浦Phenom結合FEI和PHILIPS專業技術,將強大的科學創新與可靠的質量相結合。
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