二手 PHILIPS / FEI Phenom #9362022 待售

PHILIPS/FEI Phenom掃描電子顯微鏡（SEM）是一種功能強大的儀器,用於對各種樣品進行表面分析和成像,具有無與倫比的詳細程度和準確性。它是為納米分辨率成像而設計的，視野高達30 µm。該模型采用特殊的電子光設計，以實現高分辨率，並在成像過程中提供更大的穩定性。這項創新技術由柱內初級電子透鏡和柱內進動破碎機透鏡的獨特組合組成，可對大小粒子進行高放大成像。FEI Phenom能夠實現高達20 nm的分辨率成像和高達2000X的放大倍率,以進行極其詳細的掃描。其專門設計包括一個獨特的二次電子檢測器，以最大化信號響應，並在惡劣的操作條件下減少樣品損傷。這大大增強了其成像精細樣品的能力。此外,用戶友好的軟件和自動化的功能,使操作快速和容易.SEM還提供高速圖像采集和實時全分辨率圖像推廣功能。樣品級可以在X-Y平面中輕松移動以進行精確對準，高速掃描模式允許快速成像。此外,樣品可以與可選的對準激光器進行精細對準,從而在樣品移動和對準方面獲得最大的靈活性。PHILIPS Phenom非常適合對各種樣品進行表面分析，從有機物體到陶瓷、復合材料、聚合物等非金屬材料。SEM的卓越分辨率允許對諸如晶界、纖維和粒子等特征進行詳細成像。此外,大視場和增強的信噪比可提高薄層和小特征的分辨率。總體而言,Phenom是一個功能強大的成像和分析工具,可用於具有多種功能和功能的納米級成像。它提供了高級級別的細節和準確性,以及強大、易於使用的軟件和自動化操作。它具有高分辨率、廣闊的視野和多用途的設計,是表面分析、成像和納米技術應用的理想工具。