二手 PHILIPS / FEI Quanta 200 3D #293772736 待售

ID: 293772736
Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM).
PHILIPS/FEI Quanta 200 3D掃描電子顯微鏡(SEM)是一種精密的成像儀器,以納米級分辨率提供樣品的高分辨率3D可視化。這款尖端的SEM專為高級材料研究、故障分析、質量控制以及其他細節成像和分析至關重要的科學應用而設計。FEI Quanta 200 3D SEM配備了一系列最先進的功能,使研究人員能夠以前所未有的清晰度和精確度檢查樣品。該儀器的主要亮點之一是它能夠捕獲分辨率降至亞納米級的高質量數字圖像。這種分辨率水平對於研究樣品表面的精細細節是必不可少的,例如納米級結構、表面形態和缺陷。PHILIPS Quanta 200 3 D SEM還能夠執行3D成像,允許用戶在三個維度上可視化樣品。這一特征對於了解復雜結構的空間布置和地形,以及進行體積測量和分析都是非常寶貴的。通過將高分辨率成像與3D功能相結合,研究人員可以更深入地了解其樣本的微觀結構和組成。除了成像能力外,Quanta 200 3 D SEM還配備了先進的分析工具,使研究人員能夠表征樣品的化學成分。該儀器能夠進行能量色散X射線光譜(EDS)和波長色散X射線光譜(WDS),允許用戶識別樣品中存在的元素並繪制分布圖。這種元素分析對於了解原子一級材料的組成和性質是必不可少的。此外,PHILIPS/FEI Quanta 200 3 D SEM還具有一系列成像模式,包括二次電子成像、反向散射電子成像和陰極發光成像。每種成像模式為不同類型的樣品和分析要求提供獨特的優勢。研究人員可以根據自己的具體研究目標和樣本特征選擇合適的成像模式。FEI Quanta 200 3 D SEM采用用戶友好的軟件界面設計,簡化了數據采集、處理和分析。儀器的直觀控制和自動化功能使用戶能夠以最少的人工幹預來高效生成高質量的圖像和數據。這種以用戶為中心的設計使得PHILIPS Quanta 200 3 D SEM既適合新手用戶,也適合經驗豐富的研究人員。總體而言,Quanta 200 3 D掃描電子顯微鏡是各科學學科對樣品進行高分辨率成像、3D可視化、化學分析的有力工具。憑借先進的特性、精準的性能、人性化的界面,這款儀器為SEM技術樹立了新的標準,支持材料科學、納米技術、生物等領域的前沿研究。
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