二手 PHILIPS / FEI Quanta 200 3D #9315970 待售

ID: 9315970
Scanning Electron Microscope (SEM) Dual beam With Ga ion source Acceleration voltage: 2-30kV Cutting-edge system Imaging and micro machining Surface imaging resolution: 1nm Resolution: 1.2nm at 30kV with SE detector FIB Resolution: 5-7nm ESEM Resolution: 1.5nm.
PHILIPS/FEI Quanta 200 3D是一種掃描電子顯微鏡(SEM),為成像、分析和計量應用提供了一系列功能。它是一種高分辨率的透射電子顯微鏡(TEM),比其他SEM模型具有更高的性能、準確性和靈活性。FEI Quanta 200 3 D作為二次電子檢測器,具有反向散射電子檢測器(BED)的特點,它具有傳統BED和高效SuperFEG的混合結構。飛利浦Quanta 200 3D提供高達50萬倍的最大放大倍數,提供卓越的分辨率。儀器配備了獨特的自動對齊階段,使用戶能夠快速、準確地對樣品結構進行剖析和自動對齊。Quanta 200 3D還具有20kV固定光束檢測器,可確保出色的分辨率和成像樣品的穩定性。此外,PHILIPS/FEI Quanta 200 3D優越的電子光學為用戶提供了優化成像參數的最大靈活性,如電流供應極限和源電壓。FEI Quanta 200 3D還具有高速CCD攝像頭,允許實時觀察分析。飛利浦Quanta 200 3 D的精確度和穩定性使其特別適合於操作環境中的三維結構成像。其先進的特性,如非接觸式柱內檢測器和先進的圖像處理算法,使用戶能夠準確地可視化和控制復雜的三維結構。此外,Quanta 200 3D還為光束分析和計量提供了一系列選項。這些包括先進的電子反向散射模式(EBSP)光譜儀、能量色散X射線(EDX)光譜儀和殘留氣體分析儀(RGA)。通過將這些選項與SuperFEG和標準SEM檢測器相結合,用戶可以實現快速、準確的數據采集和分析。最後,PHILIPS/FEI Quanta 200 3D是一種最先進的掃描電子顯微鏡,在成像、分析和計量應用方面具有顯著優勢。該儀器出色的分辨率、準確性和靈活性使其非常適合可視化和控制復雜的三維結構,尤其是在復雜的操作環境中。此外,它的高級功能提供了快速、準確的數據采集和分析,並且它的光束分析和計量選項範圍使用戶能夠快速分析和優化樣本特性,而無需人工幹預。總而言之,FEI Quanta 200 3D是現代實驗室中一個有價值、功能強大的工具。
還沒有評論