二手 PHILIPS / FEI Quanta 200 FEG #293741838 待售
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ID: 293741838
Scanning Electron Microscope (SEM)
Tungsten
ESEM Mode
ETD Detector
HTSU
NYCE Motion controller
Lo-vac LFD Detector
Back Scatter Detector (BSD)
Hard Disk Drive (HDD)
PC.
PHILIPS/FEI Quanta 200 FEG是一款前沿掃描電子顯微鏡(SEM),為各種研究和工業應用提供無與倫比的成像和分析能力。這種高性能儀器旨在滿足先進顯微鏡的需求,為研究人員提供有力的工具來表征各種材料的形態、組成和結構。FEI Quanta 200 FEG以場發射槍(FEG)為電子源,與傳統的熱電子電子源相比,具有更好的電子束亮度和穩定性。這樣可以提高成像分辨率和信噪比,從而能夠以卓越的清晰度和對比度詳細顯示納米結構和精細的表面特征。PHILIPS Quanta 200 FEG配備了一個用途廣泛、配置性強的腔室,可容納各種各樣的標本類型、大小和形狀。大腔室尺寸使得能夠分析從小納米顆粒到較大樣品的樣品,而可變壓力模式允許對非導電或水合樣品進行成像而無需塗層。Quanta 200 FEG的關鍵強項之一是其先進的成像能力,其中包括二次電子(SE)和反向散射電子(BSE)成像等高分辨率成像模式。該儀器能夠在SE模式下實現亞納米分辨率,使研究人員能夠以非凡的清晰度可視化精細的表面細節和納米結構。此外,BSE成像模式提供了有價值的成分對比信息,使其成為分析材料成分和分布的理想選擇。除了成像之外,PHILIPS/FEI Quanta 200 FEG還提供了一系列分析功能,以進行深入的材料表征。先進的能量色散X射線光譜系統能夠以高靈敏度和空間分辨率進行元素分析和制圖。研究人員可以準確識別和量化樣品的元素組成,獲得對材料性質和化學成分的寶貴見解。此外,FEI Quanta 200 FEG配備了電子反向散射衍射(EBSD)能力,用於材料的晶體學分析。這使得研究人員能夠調查樣品的微觀結構特性,包括晶粒取向、相位識別和紋理分析。PHILIPS Quanta 200 FEG上的EBSD系統為研究晶粒級材料和了解材料的機械和熱性能提供了寶貴的信息。Quanta 200 FEG由用戶友好的軟件控制,該軟件可實現直觀的操作以及圖像和分析功能的無縫集成。該儀器提供了一系列自動化功能,以提高生產率,包括自動對焦、自動標記和自動圖像采集。研究人員可以有效地獲取和處理數據,節省時間,並能夠快速洞察樣品特性。最後,PHILIPS/FEI Quanta 200 FEG是一種功能強大且用途廣泛的掃描電子顯微鏡,它為廣泛的應用提供了先進的成像和分析功能。研究人員可以依靠這種高性能儀器,對物質屬性提供詳細的見解,使科學技術各領域的開創性發現和進步成為可能。
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