二手 PHILIPS / FEI Quanta 200 FEG #293826926 待售
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ID: 293826926
Field Emission Gun Scanning Electron Microscope (FEG-SEM)
Energy Dispersive X-ray Spectroscopy (EDS/EDX) system
Secondary Electron (SE) detector
Backscattered Electron (BSE) detector
GENESIS XM 4i with Si (Li)
Liquid nitrogen dewar: 10 liters
Large specimen chamber
Power transformer
Motorized stage
Rotary pump
Control table
Water vapor
Spatial resolution: 15 kV: 2.1 nm, 1 kV: 5 nm
Low vacuum (LV): P = 10 to 130 Pa
High vacuum (HV): P<6.10-4 Pa
Operating voltage: 0.5-30 kV
Peltier stage: -20°C - +100°C
Probe current: < 100 nA
ESEM: P = 10 to 2700 Pa
Heating stage: 1500°C
(2) Turbo molecular pumps
(2) Ionic pumps
(3) Screens
(2) PC.
PHILIPS/FEI Quanta 200 FEG是一款先進的掃描電子顯微鏡（SEM），以其在廣泛的科學和工業應用中的卓越成像能力和多功能性而聞名。該儀器配備了場發射槍（FEG）作為電子源，提供高分辨率成像、出色的信號檢測和精確的光束控制，在納米級對樣品進行詳細分析。FEI Quanta 200 FEG的核心是它的野外發射槍，產生高亮度和相幹性的聚焦電子束。這種電子源與傳統的熱電子源相比提供了優越的空間分辨率，使顯微鏡能夠實現亞納米成像能力。FEG還提供增強的穩定性和長期性能,使其非常適合要求一致高質量結果的苛刻成像任務。PHILIPS Quanta 200 FEG具有多功能的電子光學設備,可讓用戶調整光束電流、加速度電壓和光斑尺寸,以優化不同類型樣品的圖像質量和對比度。顯微鏡可以在一定範圍的加速度電壓下工作，通常從幾百伏到幾十千伏，這取決於實驗的要求。這種靈活性使得能夠成像各種材料，從生物樣品到半導體器件，具有不同的導電特性。Quanta 200 FEG的一個關鍵特征是其收集樣品表面發射的二次電子（SE）和反向散射電子（BSE）的先進檢測系統。顯微鏡配備了高靈敏度探測器，能夠高效率地捕獲低能電子，允許在獲得的圖像中增強對比度和地形信息。SE檢測器常用於表面形態學分析，而BSE檢測器則是組成成像和材料對比研究的理想選擇。除了高分辨率成像之外,PHILIPS/FEI Quanta 200 FEG還提供了一系列分析能力,用於對納米級樣品進行表征。顯微鏡可配備各種探測器和附件，用於進行能量色散X射線光譜（EDS）、電子反向散射衍射（EBSD）和陰極發光（CL）分析等。這些分析技術提供了有關樣品的有價值的組成、晶體學和光學信息，增強了對樣品特性和行為的整體理解。FEI Quanta 200 FEG采用用戶友好的軟件界面和直觀的控制設計,以實現高效的操作和數據采集。顯微鏡軟件允許方便的導航、成像參數調整和圖像處理，使研究人員和工程師能夠快速獲得高質量的結果。該單元還支持批量成像和分析任務的自動化和腳本編寫,提高了復雜實驗的生產率和可重復性。總之，飛利浦Quanta 200 FEG掃描電子顯微鏡是高分辨率成像和納米級樣品高級分析的有力工具。憑借其FEG電子源、多功能光學機器、先進的探測器和分析能力，該儀器為研究人員和行業專業人士提供了一個平臺，以深入描述和了解各種材料和結構。Quanta 200 FEG擅長提供卓越的性能、靈活性和易用性,使其成為各種科學學科和工業應用領域的寶貴資產。
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