二手 PHILIPS / FEI Quanta 200 #293616533 待售

ID: 293616533
Scanning Electron Microscope (SEM).
PHILIPS/FEI Quanta 200是一種先進的掃描電子顯微鏡(SEM),設計用於微型和納米級成像材料。它提供包括納米級分辨率在內的高分辨率成像,其內置的超高分辨率SE探測器帶有二次電子(SE2)探測器,用於捕獲三維表面地形。靈活的數字成像工具可以方便、精確地控制成像參數。FEI Quanta 200利用場發射電子(FE)技術,允許來自電子源的高亮度發射。這有助於在電子劑量最小的情況下產生良好的信噪比成像。FE源還具有較大的聚焦深度,能夠對大型樣品和復雜幾何形狀進行成像。飛利浦Quanta 200有非常廣泛的電子探測器選擇,包括用於成像結構、組成和方向的反向散射電子(BSE)探測器和用於地形表面成像的二次電子(SE2)探測器。SE和BSE探測器都被納入系統,允許同時成像地形細節和元素組成。Quanta 200包括先進的成像特性,如E-gun像差校正,允許在分析前對樣品進行高分辨率成像和分析。該工具允許從樣品中去除圖像制品,而無需繁瑣的物理樣品制備。PHILIPS/FEI Quanta 200還包括了半自動樣本導航等自動化功能,可加快樣本掃描速度,減少操作時間。它還配備了激光幹涉儀,自動校正和調整樣品級的次要定位誤差。FEI Quanta 200是高分辨率不同尺寸形狀成像材料的絕佳選擇。它可以用於材料的表征和分析、地形研究,以及研究材料的結構、組成和取向。PHILIPS Quanta 200具有高分辨率成像、快速成像速度和自動化功能,是任何希望詳細研究材料的科學家或研究人員的理想工具。
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