二手 PHILIPS / FEI Quanta 200 #293735981 待售
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ID: 293735981
Scanning Electron Microscope (SEM)
HTSU Unit non-functional
Dual anode source emission geometry
Filament lifetime: >100 hours
Detectors:
Everhardt-Thornley SED
Low vacuum SED (LFD)
Gaseous SED (GSED)
Solid-state BSED
Gaseous analytical BSED (GAD)
Vacuum system:
240 l/s TMP
(2) PVP
Beam gas path length: 10/2 mm
Chamber:
(8) Ports
Left to right: 284mm
Analytical WD: 10mm
EDX Take-off angle: 35°
4-Axis motorized stage:
Eucentric goniometer stage
X,Y: 50mm
Z: 50mm
R: 360°
Repeatability: 5µm
Resolution:
3nm at 30kV (SE)
4nm at 30kV (BSE)
10nm at 3kV (SE)
Accelerating voltage: 200 V - 30 kV
Probe current: Up to 2µA
System control:
Keyboard
Optical mouse
Single frame
(4) Quadrant image display
(4) Quadrant live
Graphical user interface: 32-Bit
Operating system: Windows 2000 SP3.
PHILIPS/FEI Quanta 200是一種掃描電子顯微鏡（SEM），設計用於多個領域，包括材料科學、地質學和工業研究。它配備了場發射槍（FEG）電子源，提供高放大倍率的精密成像。FEI Quanta 200提供了一系列獨特的功能，如高分辨率成像系統、可變壓力掃描能力、高質量的二次和反向散射探測器，以及一個大的標準樣品室。PHILIPS Quanta 200是可變壓力SEM（VP-SEM），意味著它允許用戶選擇電子柱的工作壓力。這對精細樣品的分析是有利的，因為減壓允許更廣泛的分析技術，包括涉及液體和氣體的分析技術。Quanta 200配備了SE和BSE探測器，允許收集反向散射和二次電子，用於生成高分辨率圖像。BSE探測器能夠收集較輕的電子，從而能夠檢測到較低濃度的元素。SEM還配備了聚焦離子束（FIB），可用於從樣品中精確提取、收集和分析各種顆粒。FIB還能夠創建橫截面樣本,從而在示例中顯示各種級別的詳細信息。PHILIPS/FEI Quanta 200由最新版本的歐米茄軟件提供動力，為用戶提供了一個多方面的獲取和分析信號圖像和數據的平臺。該軟件允許整合各種信號和圖像處理工具，以及對獲得的數據進行操作和分析。最後，FEI Quanta 200具有全面的特點，是各種應用和研究的理想顯微鏡解決方案。其高分辨率、多探測器和可變壓力能力都有助於其促進對不同材料和物質進行廣泛研究的能力。
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