二手 PHILIPS / FEI Quanta 200 #293807174 待售
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ID: 293807174
Scanning Electron Microscope (SEM)
Dual anode source emission geometry
Fixed objective aperture
Through-the-lens differential pumping
Filament lifetime: >100 hours
Resolution:
3nm at 30kV (SE)
4nm at 30kV (BSE)
10nm at 3kV (SE)
Accelerating voltage: 200 V - 30 kV
Probe current: Up to 2µA
Detectors:
Everhardt-Thornley SED
Low vacuum SED (LFD)
Gaseous SED (GSED)
Solid-state BSED
Gaseous analytical BSED (GAD)
Vacuum system:
240 l/s TMP
PVP
Beam gas path length: 10/2 mm
Chamber:
(8) Ports
Left to right: 284mm
Analytical WD: 10mm
EDX Take-off angle: 35°
4-Axis motorized stage:
Eucentric goniometer stage
X,Y: 50mm
Z: 50mm
R: 360°
T: -15° to +75°
Repeatability: 2µm
Image display:
LCD: 19 inch
SVGA: 1280 x 1024
System control:
Keyboard
Optical mouse
Single frame
(4) Quadrant image display
(4) Quadrant live
Graphical user interface: 32-Bit
Operating system: Windows XP.
PHILIPS/FEI Quanta 200是一種掃描電子顯微鏡（SEM），設計用於提供高分辨率成像和分析各個發展階段的材料。顯微鏡結合了先進的光學、控制系統和軟件，以獲得最佳的性能和準確性。該儀器為材料和組件分析領域的不同任務提供了多種分析解決方案。FEI Quanta 200的動態範圍高達10個數量級，使其能夠以高達3 nm的分辨率成像和檢測細節。該設備配備了頂級鏡頭,采用可變壓力操作和調節功能進行精確成像。此外，它還利用數字成像技術，產生具有廣泛景深的銳利渲染圖像。PHILIPS Quanta 200配備了高靈敏度探測器、圖像放大器和先進的電子控制裝置,可提供精確的測量和功能。它可以檢測到微粒、毒痘和體積內微粒，低至0.1nm。探測器可以探測到一系列元素，從氫等輕元素到鈾等重元素不等，能夠相對容易地進行X射線測量。Quanta 200還具有高級軟件包,可提供出色的數據可視化和分析功能。圖形用戶界面允許定制報告構建和數據處理解決方案。它還可以連接到機器人系統，以完成更復雜的研發任務。PHILIPS/FEI Quanta 200是一種功能強大的儀器,可為研究人員提供高分辨率的成像和準確的分析。它采用先進的光學、探測器、電子控制和軟件套件,以獲得最佳性能。其能力和屬性使得FEI Quanta 200非常適合材料和元件分析領域的研發。
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