二手 PHILIPS / FEI Quanta 200 #9145600 待售

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ID: 9145600
優質的: 2005
3D Focused Dual Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB SEM) I-Gun type: Magnum column E-Gun type: Tungsten E-column Beam current: 10 pA ~ 20 nA W-Filament No EDAX Vacuum type: Turbo molecular pump Mechanical pump Ion getter pump Deposition system: Metal deposition (Pt) Stage type: 50 x 50 mm TSMCB Operating system: MS Windows XP ETD Detector 2005 vintage.
PHILIPS/FEI Quanta 200是一款現代化、先進的掃描電子顯微鏡(SEM),專門設計用於高分辨率成像和分析微和納米級樣品。FEI Quanta 200的高性能設計基於創新技術,在最苛刻的應用中提供卓越的成像、精度和性能。飛利浦Quanta 200是一款具有出色分辨率、對比度和放大倍率的高分辨率數字成像儀器。先進的光學器件,包括低噪聲集成柱電子探測器(ICED)和可選的肖特基場發射源,提供令人難以置信的詳細圖像。可選的高亮度場發射源(FES)具有更高的分辨率,可以與Quanta 200一起用於微量和納米尺度的材料研究。PHILIPS/FEI Quanta 200配備了強大的電子設備,使科學家能夠精確控制顯微鏡的設置。利用內置軟件,用戶可以操縱圖像和顯微鏡參數以獲得最佳效果。HT成像、電子束聚焦、基於圖像的自動縫合和Z對比度模式等功能為分析提供了額外的數據。FEI Quanta 200的樣品室設計為提供穩定、無振動的環境,以確保精確的成像和測量。環境室充分控制樣品室的溫度和濕度,並防止環境汙染。可選的飛行中半導體分析室(ISAC)允許用戶以驚人的分辨率和準確性研究薄膜。飛利浦Quanta 200的渦流消除系統允許用戶分析和測量導電樣品的電性能。可變壓力系統使用戶能夠研究非導電樣品,而多重離子源CS-EMS IonColumn技術允許以前所未有的速度和精度對樣品進行分析。Quanta 200用途廣泛,可以進行調整和升級,以滿足廣泛應用的需求。對於需要高質量成像、精確度和性能的實驗室和研究機構來說,它是理想的選擇。
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