二手 PHILIPS / FEI Quanta 200 #9148989 待售

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ID: 9148989
3D Scanning Electron Microscope (SEM) With Focused Ion Beam (FIB) Secondary electron detector Backscattered electron detector Charged-coupled device Electron dispersive system Gaseous backscattered detector EBSD Orientation mapping system EDAX Detecting unit EDX Digital controller: 240V Resolution: High-vacuum: 3.0nm at 30kV 4.0nm at 30kV 10nm at 3kV Low-vacuum: 3.0nm at 30kV 4.0nm at 30kV < 12nm at 3kV Extended vacuum mode: 3.0nm at 30kV Accelerating voltage: 200V – 30kV Probe current: up to 2μA – continuously adjustable.
PHILIPS/FEI Quanta 200是一種高分辨率掃描電子顯微鏡(SEM)。它是一種高端儀器,具有豐富的特性和功能,旨在為許多科學領域的研發提供最高質量的成果。FEI Quanta 200是一種陰極發光(CL)和二次電子(SE)成像系統,能夠觀察和分析納米尺度內多種材料的詳細結構和物理性質。其先進的設計也允許它提供廣泛的功能,包括電子光譜和能量過濾成像,即使在低加速電壓範圍。飛利浦Quanta 200具有獨特的野戰發射槍(FEG)和環境特性組合。FEG和雙離子源與SE探測器相結合,使顯微鏡能夠在0.1V至30kV的工作電壓範圍內運行,30kV時分辨率高達2.5nm,從而能夠廣泛應用,如納米光刻、故障分析和材料研究。Quanta 200的環境特點包括工作室氣閘和環境安全殼級手套箱。氣閘可以連接到真空泵,讓用戶在真空中工作,通量高,而環境手套箱則確保無汙染環境。再者,PHILIPS/FEI Quanta 200配備了提供10-10至10-7 Pa工作壓力範圍的全集成差速泵系統,允許各種真空應用。在分析方面,FEI Quanta 200標配內置光譜儀和能量過濾成像,使用戶能夠分析材料特性如成分、深度剖面、元素分布、殘余應力、表面缺陷和納米技術相關技術等新興技術。總而言之,PHILIPS Quanta 200是一款功能強大的儀器,為研究人員提供可靠的高分辨率成像和分析工具。其先進的特性和功能允許各種應用,其環境控制特性使其成為一種用途極為廣泛的設備,能夠處理各種納米級材料並分析其物理特性。
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