二手 PHILIPS / FEI Quanta 200 #9163542 待售
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ID: 9163542
優質的: 2005
3D Particle beam systems
W-Filament SEM
I-Gun type: Magnum column
E-Gun type: Tungsten E-column
Beam current: 10 pA~20 nA
Deposition system: Metal deposition (PT)
Vacuum types:
Turbo molecular pump
Mechanical pump
Ion getter pump
Stage type: 50 x 50mm TSMCB
PS / OS: MS Windows XP
ETD Detector
2005 vintage.
PHILIPS/FEI Quanta 200是一種掃描電子顯微鏡（SEM），設計用於高分辨率成像、分析和測量多種材料。FEI Quanta 200采用先進的數字信號處理器（DSP）來生成樣品表面清晰、高對比度的圖像。DSP還實現了廣泛的圖像采集模式，如離子束顯微鏡（IBM）、二次電子成像（SEI）、反向散射電子成像（BEI）和X射線微分析（XRM）。PHILIPS Quanta 200具有高度準直、可變電流、現場發射槍,可實現卓越的圖像分辨率。該槍可以在極低電壓（高達60 keV）下產生反向散射電子（BSE），以避免樣品充電和樣品損壞以及高達30 keV的二次電子（SEs）。BSE和SE的這種組合可實現全面的成像和高分辨率成像功能。Quanta 200還有一個可變角度的BSE檢測器，用於SE對比度和立體成像，允許3D重建。此外,PHILIPS/FEI Quanta 200還提供了廣泛的X射線微分析（XRM）功能,能夠進行定量元素、組成和結構分析。XRM容量的特點是檢測高達400 keV的X射線光譜,能夠對單個或多個元素以及Carbon、Oxygen、Nitrogen和Phosphorus進行成像,以及用於高級數據處理的高級X射線微分析軟件。FEI Quanta 200還有一個內置的能量色散X射線光譜（EDX）容量，可以適應多種不同類型的樣品。此外，飛利浦Quanta 200具有完美耦合的低真空環境系統，為金屬和絕緣體等多種材料提供最佳成像條件。該系統保持適當的真空水平，以增強高分辨率成像，同時提供卓越的保護，防止輻照損害樣品。最後，Quanta 200是一種高度精密的掃描電子顯微鏡，結合了先進的數字信號處理器、野外發射槍、可變角度BSE檢測器和X射線微分析能力，使其成為一種用途廣泛、功能強大的研究儀器。SEM是研究多種材料的組成、結構和形態的研究人員的理想選擇，其環境保護系統能夠實現超高分辨率的長期成像。
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