二手 PHILIPS / FEI Quanta 200 #9183253 待售

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ID: 9183253
優質的: 2010
3D Environmental Scanning Electron Microscope (ESEM) / FIB System Field emission Ga ion source and thermal electron emitter Ga Ion source BSE Detector GAD Detector XEDS System EDS: THERMO Noran SDD 30 mm² Pt Gas injection system Stage travel: X / Y Axes: 50 mm Z Axes: 25 mm Peltier cooling stage Omniprobe autoprobe 200 micro manipulator (2) Oil free roughing pumps Turbo pump 2010 vintage.
PHIPHILIPS/FEI Quanta 200是一種先進的高分辨率掃描電子顯微鏡(SEM),能夠提供精確、詳細的高通量圖像。它配備了超高真空(UHV)源,能夠維持比10^-10 mBar更好的真空。顯微鏡的電子光學器件位於氣密室,提供了異常穩定的成像環境。160mm x 65mm的樣品室允許對範圍廣泛的樣品類型進行成像,包括厚厚的樣品、易碎的材料和小的樣品。FEI Quanta 200能夠在超快成像時間內對納米級特征進行高分辨率成像和量化。它的柱內能量濾波器允許對材料進行快速準確的能量表征,使得它對於分析元素成分特別有用。該模型還具有集成的組合檢測器,包括SIMS離子檢測器和用於成分分析的EDS檢測器。這使得采樣和成像的準確性達到了無與倫比的水平。此外,飛利浦Quanta 200擁有快速掃描系統,以及一系列適合任何實驗室環境的微觀分析和成像選項。Quanta 200允許根據項目的需求提供多種成像模式。它的可變壓力成像模式能夠成像易碎樣品而不會損壞樣品。它還具有高分辨率成像、放大成像和低真空成像等特點。它附帶了二次電子檢測器和反向散射電子檢測器等檢測器的選擇,可以用來生成高度詳細的圖像。總體而言,PHIPHILIPS/FEI Quanta 200提供了廣泛的掃描電子顯微鏡選項,使研究人員能夠充分利用他們的研究材料。FEI Quanta 200具有高通量、多種探測器選擇和多種成像模式,是研究納米尺度特征的理想工具。
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