二手 PHILIPS / FEI Quanta 200 #9232137 待售
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ID: 9232137
3D Environmental Scanning Electron Microscope (ESEM) / FIB System
Equipped with:
Field-emission Ga ion source
Thermal electron emitter
ThermoNoran high-energy-resolution (129 eV) / High-count-rate SDD detector
Integrated onto single platform
High-volume milling capabilities
ESEM Differential pumping
Variable pressure (Oil-free) vacuum system
Gaseous secondary
Back scattered electron detectors for imaging
Analysis in gaseous chamber environment
Gas chemistry technology for enhanced milling rates
Specimen goniometer with 50 mm travel along x and y axes
Automated unattended sectioning with full access to E-beam
I-Beam and patterning
Gas chemistry functionality
Operating system: Windows 2000
4-Quadrant: Beam per quad user interface
EDS Detector: THERMO SCIENTIFIC Ultra dry
FIB Accessories:
Omniprobe Autoprobe 200
Gas injection systems: Platinum deposition
EDWARDS XDS 10 Vacuum pump.
PHILIPS/FEI Quanta 200是一種掃描電子顯微鏡（SEM），已被用於多種應用，如材料科學、環境科學和生命科學。設備在高壓下運行，配有立體聲5軸手動級和用於樣品制備和分析的大腔室。FEI Quanta 200具有模塊化設計,允許高級配置,並且能夠通過提供可互換的樣品持有者快速交換樣品時間。它還具有所有成像模式的高分辨率，包括二次電子成像、反向散射電子成像和低真空SEM成像。系統的來源是場發射槍（FEG），通過使用電壓吸引來自源材料的電子而工作，再由螺線管透鏡聚焦形成光束。然後將此光束加速到樣品,然後掃描並成像。飛利浦Quanta 200具有可變的光斑大小，允許用戶調整電子束的大小，以更好地適應圖像分辨率的需要。另外，該單元可以在傾斜式和非傾斜式探測器之間切換，允許不同的研究應用。Quanta 200上有幾個自動化功能，可以大大減少準備和觀察時間。包括自動導航機，使樣品定位更容易。該工具還可自動對準探測器,減少分析和成像時間。PHILIPS/FEI Quanta 200還裝有各種分析工具和方法。這些包括能量色散X射線分析、壽命和脈沖粒子反向散射檢測、數字成像預處理以及內置在資產中的分析算法。這套工具允許在研究應用中使用最全面的一組技術。總體而言,FEI Quanta 200是一款先進且功能強大的SEM,可用於廣泛的研究應用。它具有廣泛的功能、自動化工具和高度先進的功能,是尋找能夠提供可靠性能和準確結果的SEM的研究人員的絕佳選擇。
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