二手 PHILIPS / FEI Quanta 200F #9362641 待售

PHILIPS/FEI Quanta 200F掃描電子顯微鏡（SEM）為材料科學和工業領域的研究人員和工程師提供多功能成像。它提供了多種成像技術來提供納米尺度微觀結構的優越圖像。FEI Quanta 200F具有SNR（信噪比）增強鏡頭內二次電子探測器,可實現2 nm的分辨率,從而能夠對曲面進行詳細分析。這種探測器使更多的電子透明樣品能夠成像，非常適合表征半導體器件和生物樣本中的微觀結構特征。SEM具有亞納米分辨率，是優化表面成像的理想選擇。它的工作距離從20毫米到1毫米不等，給用戶精確控制顯微鏡的工作距離和標本成像。壓力補償光束消光靜電系統有助於降低環境振動對樣品成像的影響。飛利浦QUANTA 200 F有多種影像模式，以適應不同的研究需求。具有用於地形信息的低壓反向散射電子成像，超高分辨率成像具有大視野的可變壓力STEM模式。用戶可以使用Nomarski差分幹涉對比模式對樣本的結構進行成像。自動微調準直器、電子束大小、加速度電壓和檢測器靈敏度等特點使飛利浦廣達200F高度通用。例如,用戶可以在最短的時間內調整特征以獲得最佳的圖像質量。量子200F掃描電子顯微鏡是一種功能強大的儀器，適用於各種行業的廣泛應用。它提供了高分辨率的圖像,以及一組通用的成像模式和自動微調功能,使其成為檢查微觀結構和材料的絕佳選擇。