二手 PHILIPS / FEI Quanta 250 FEG #9409887 待售

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ID: 9409887
Scanning Electron Microscope (SEM) EDAX Energy spectrometer Electron backscatter diffractometer Electron beam voltage range: 200 V-30 kV Electron beam resolution: High vacuum mode: 1.0 nm / 30 kV (SE) 2.5 nm / 30 kV (BSE) 3.0 nm / 1 kV (SE) Low vacuum mode: 1.4 nm / 30 kV (SE) 2.5 nm / 30 kV (BSE) 3.0 nm / 3 kV (SE) Circumferential scan mode (ESEM): 1.4 nm / 30 kV (SE).
FEI Quanta 250場發射槍掃描電子顯微鏡(FEG SEM)是一種強大的儀器,可以對微觀樣品表面進行詳細分析。憑借高達15 kV的最大加速電壓和穩定的高分辨率成像系統,Quanta 250能夠提供數百萬張X放大圖像。FEG SEM的優越性能是通過其使用超穩定冷電子源的野外發射槍實現的。這極大地增強了顯微鏡的分辨率能力,使得樣品的特征能夠以非凡的分辨率和清晰度顯露出來。此外,Quanta 250經過最大靈敏度的設計,允許檢測到甚至單個或小的粒子,而atDepth Resolution是極好的,具有清晰的表面成像解析度。Quanta 250提供的各種樣品制備方案確保了對任何材料表面的徹底勘探。從非導電樣品到導電、磁性和/或機械上具有挑戰性的應用,這個系統配備了最新的技術來執行各種先進的技術。除了宏觀成像,廣達250還配備了分析能力。其先進的EDX技術允許晶體分析、相位識別和定量元素映射。其WDS技術支持定性和半定量分析,使這種儀器能很好地進行先進和精密的表面電位分析、摩擦學、蝕刻工藝優化和汙染控制研究。最後,Quanta 250提供了強大的數字圖像處理和成像軟件,包括OmniScan、ImageVision和Image2D等程序,使研究人員能夠快速分析和解釋其結果。此外,Quanta 250的復雜硬件和軟件功能使其成為需要復雜成像和數據處理功能的用戶的理想選擇。PHILIPS/FEI Quanta 250 FEG是一款功能強大、用途廣泛的儀器,可以對微觀樣品表面進行詳細的分析和探索。憑借其卓越的分辨率、先進的分析能力和強大的數字成像軟件,該系統對於需要對其樣本進行全面分析的實驗室來說是一個非常寶貴的工具。
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