二手 PHILIPS / FEI Quanta 250 #9195113 待售
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ID: 9195113
Scanning Electron Microscope (SEM)
BRUKER EDS System
Detector: XFlash detector 5010
Heating stage: 1000°C
CARTON 2050 Chiller
Missing HTSU 36kV high voltage power supply, P/N: 4022 268 00355
2010 vintage.
PHILIPS/FEI Quanta 250是一種掃描電子顯微鏡(SEM),主要設計用於納米級特征的成像。這款先進儀器具有各種高性能組件,如野外發射槍(FEG)、液氮冷卻電子探測器和超高分辨率成像系統。FEG產生聚焦的高分辨率電子束,用於成像尺寸從幾毫米到幾納米不等的樣品表面。電子束聚焦在一個廣泛的放大範圍,允許大規模的概述圖像和納米細節。該探測器是液氮冷卻薄膜探測器,能夠檢測二次電子、反向散射電子和特征X射線。此外,FEI Quanta 250還具有超高分辨率成像系統,可產生分辨率約為0.1 nm的圖像。除了成像表面之外,PHILIPS Quanta 250還能夠對厚度高達200 µm的樣品進行3D重建。這是通過獲取不同入射角度的多個圖像,然後將它們組合到3D數據集中來實現的。該儀器還可用於各種分析過程,包括真空中的樣品分析、實時的表面分析和表征、快速元素映射、檢測線缺陷、檢查晶界以及區分多晶材料中的個別相。Quanta 250還具有多種用戶激活的控件,如提供360°旋轉和傾斜控制的樣本級測角儀、蜂窩級自動對準系統、最大5 kV的偏壓控制、半自動采樣選擇、多元素檢測器、快速數據采集速度和3D重建軟件。因此,PHILIPS/FEI Quanta 250旨在提供直觀且高度精確的納米級特性成像。
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