二手 PHILIPS / FEI Quanta 250 #9195741 待售
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ID: 9195741
優質的: 2013
Scanning electron microscope (SEM)
P/N: 1027641
FEG D8421
Source: Field emission gun assembly
With schottky emitter source
Resolution:
High vacuum mode:
1.2 nm at 30 kV (SED)
2.9 nm at 1 kV (SED)
High vacuum mode with options:
1.0 nm at 30 kV
2.5 nm at 30 kV
0.8 nm at 30 kV
3.0 nm at 1 kV
2.3 nm at 1 kV
3.1 nm at 200 V
Low vacuum mode:
1.4 nm at 30 kV (SED)
3.0 nm at 3 kV (SED)
Low vacuum mode with options: 2.5 nm at 30 kV
Extended vacuum mode (ESEM): 1.4 nm at 30 kV (SED)
Focus range: 2.5 - 99 mm
Magnification: 20x - 2000000x
Field of view:
High and low vacuum modes: 21 mm
Secondary electron (SE) detector
500 pm with standard
Axial
Gaseous
Scanning system:
Pixel density: 768 x 512, 1536 x 1024, 3072 x 2048 or 6144 x 4096
Minimum dwell time: 50 ms / pixel
Maximum: 25 ms / pixel
Electronic scan rotation: n x 360°
DCFI (Drift compensated frame integration)
P/N / Description
FP 6842/22 / Beam deceleration
FP 2304/17 / Low-kV SSBSED
FP 2304/11 / GAD Low-kV SSBSED
FP 2304/16 / ESEM GAD Detector
FP 2304/23 / Low-kV, high contrast detector (vCD)
FP 2303/00 / Gaseous BS detector
FP 6901/30 / Centaurus detector with back scatter tip
FP 6902/30 / Cathode luminescence tip for centaurus detector
FP 2310/00 / PMT Detector interface
FP 6843/52 / 6-Channel detector amplifier
FP 2303/04 / Wet stem
FP 2300/12 / PELTIER Stage
FP 2300/42 / PELTIER / Heating stage control kit
9432 909 96541 / CRYO Can
FP 6761/46 / Nav-cam 250
1018263 / Windows 7 support PC
FP 2311/01 / Joystick
FP 2311/05 / Manual user interface
9432 909 96411 / Compressor 120 V, 60 Hz with 4-liter tank
(2) 9425 060 99100 / On-site Training / Supports
4022 404 41091 / Installation labor quanta 250 FEG NA
4022 404 02091 / Installation material quanta 250 FEG NA
Voltage: 200 V - 30 kV
Beam current: 200 nA
2013 vintage.
PHILIPS/FEI Quanta 250是適合先進研究和工業應用的線掃描電子顯微鏡(SEM)的頂端。利用強大的鎢絲X射線源和五象限尾部電子噴槍,FEI Quanta 250甚至能夠處理最困難的初級電子成像任務。高分辨率、低真空柱設計進一步增強了其成像能力,允許在1至30 keV的加速電壓下進行高對比度高成像。PHILIPS Quanta 250除了具有成像能力外,還配備了幾臺EDX探測器,包括位於柱中央下方的HARPES探測器和GATAN DigitalMicrograph自動化分析設備。這確保了用戶能夠準確識別和分析他們的樣品,讓他們在常規電子顯微鏡下不可能的一種SEM中研究元素組成。EDX探測器還配有集成成像和濺射Coater系統,該系統有助於保持樣品完整性,並以最小的樣品制備率提供高分辨率圖像。Quanta 250中包含的其他功能還有20nm至5微米的探測範圍、30KV 1納米的圖像分辨率、用於傾斜和掃描控制的偏轉器單元以及集成真空泵房。該探測器還能夠包括法拉第杯和二次電子探測器,從而提高其分辨率和能量分辨率。集成真空泵機確保用戶能夠在最低真空下工作,最大限度地減少汙染,提高機器的精度。PHILIPS/FEI Quanta 250是一款功能強大且用途廣泛的光源,非常適合電子成像、分析和分類應用。憑借其廣泛的成像能力、EDX探測器和集成的真空泵送工具,它能夠提供精確的圖像和無與倫比的精確度。它是任何需要無與倫比的成像技術和精致細節的研究或工業應用的完美工具。
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