二手 PHILIPS / FEI Quanta 3D FEG #293600869 待售

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ID: 293600869
優質的: 2009
Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM) OMNIPROBE 200 for lift out (3) Gases: Pt, XeF2 and W CL Centaurus detector EDAX: EDS, WDS, EBSD Magnum ion column Hard Disk Drive (HDD) PC Non-functional 2009 vintage.
PHILIPS/FEI Quanta 3D FEG是一種提供超高分辨率成像和分析的野外發射槍(FEG)掃描電子顯微鏡(SEM)。這個先進的成像系統提供了納米分辨率的樣品圖片。它還提供了廣泛的檢查能力,如元素成分分析、表面地形映射和揮發性材料分析。FEI Quanta 3D FEG利用場發射槍(FEG)產生一束帶有很小電子探針的光束。這種緊密聚焦的光束提供了被檢查材料的原子級細節,使用戶能夠識別出尺寸相當大的材料缺陷和傳統SEM系統無法看到的其他特征。PHILIPS QUANTA 3D FEG的光束控制系統確保了光束輪廓的穩定和更精確的成像結果。PHILIPS/FEI QUANTA 3 D FEG允許用戶分析廣泛的材料,從絕緣體到導體和半導體。這包括對納米結構、溝槽、表面和各種薄膜材料的微觀特征的高分辨率觀測。此外,系統的電子束可以與樣品相互作用,提供元素組成和晶體結構的信息。QUANTA 3 D FEG配備了眾多的成像和分析功能,允許用戶檢測到廣泛的材料特性。這包括但不限於電子反向散射衍射、能量色散X射線光譜、形狀識別和定量、薄膜分析以及通過一系列定量測量軟件增強的成像。總體而言,FEI QUANTA 3D FEG是一種功能強大的掃描電子顯微鏡,非常適合應用於材料科學、生命科學和納米工程。這項尖端技術為各種高分辨率成像和元素組成分析提供了卓越的性能、穩定性和靈活性。
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