二手 PHILIPS / FEI Quanta 3D FEG #293669806 待售

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ID: 293669806
Focused Ion Beam (FIB) system.
PHILIPS/FEI Quanta 3D FEG是一種綜合性的高性能掃描電子顯微鏡(SEM),用於對廣泛的材料和應用進行成像和分析。此設備具有出色的靈活性、先進的成像功能,並具有用於高級應用程序和研究的魯棒性。FEI Quanta 3D FEG具有獨特的設計,具有兩個鏡頭系統和一個納米級場發射槍(FEG)。這種組合可以提供高度的放大率和廣泛的分辨率。野外發射槍(FEG),提供了幾個優點,包括高視角、近光電流和非常低的背景噪聲。它還提供了廣泛的放大功率,可提供高達200,000倍的放大倍數。FEG的壽命長、安培低、分辨率高,非常適合各種成像應用。PHILIPS QUANTA 3D FEG旨在滿足分析和成像需求,使用戶能夠獲得樣品的詳細信息。它的高級軟件有助於以不同的方式分析數據,幫助用戶快速訪問所需的結果。顯微鏡也是自動化的,可以方便地訪問不同的成像和分析參數以及各種不同的成像模式。QUANTA 3 D FEG還提供了一系列的附件,包括完整的檢測器範圍,如二次電子檢測器、反向散射電子檢測器以及附加的能量色散檢測器陣列。這些有助於準確測量和量化樣品的元素組成。此外,FEI QUANTA 3D FEG具有獨特的半自動樣品制備系統,有助於維護樣品環境並減少分析樣品所需的時間。最後,顯微鏡具有集成軟件包,允許用戶控制顯微鏡的所有設置,包括圖像大小、亮度、對比度等等。最後,PHILIPS/FEI QUANTA 3D FEG是一種全面、高性能的掃描電子顯微鏡,為高級應用和研究提供了卓越的靈活性、先進的成像能力和魯棒性。這種掃描電子顯微鏡是成像材料和分析納米級樣品的理想選擇。
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