二手 PHILIPS / FEI Quanta 3D FEG #293814859 待售
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ID: 293814859
Dual beam Scanning Electron Microscope (SEM)
Heated stage
Explosives Detection System (EDS)
Robotic arm
Gas injector
Dual beam system.
PHILIPS/FEI Quanta 3D FEG是一種高分辨率掃描電子顯微鏡(SEM),專為在納米科學研究的各個領域進行可靠準確的成像而設計。這個SEM配備了一個場發射槍(FEG)電子源,產生一個高強度、聚焦的光束,能夠在納米級水平上成像。FEI Quanta 3D FEG初級電壓範圍為1-30千伏,可變著陸電壓為0.2-6千伏,允許廣泛的樣品成像要求。光束電流和光斑尺寸完全可調節,確保分辨率為0.2 nm及更小。PHILIPS QUANTA 3D FEG上的先進成像功能包括掃描自動顯微鏡(SAM),該顯微鏡結合了SEM和陰極發光(CL)。CL模式允許對樣品的光子發射進行直接成像,從而能夠對局部晶體結構和取向進行定量分析。此外,反向散射和二次電子探測器在樣品表面提供地形和組成信息。透鏡內SE探測器用於高分辨率元素對比度成像,進一步增強了這些信息。PHILIPS Quanta 3D FEG配備了多種樣品持有者,可實現濕法和幹法樣品制備。此SEM使用環境技術,提供從5 × 10-6到2 × 10-11 mbar的可變真空範圍,以實現最終掃描靈活性。還包括一個集成的視頻/數碼相機,從而更容易以不同的放大倍率獲取圖像。集成比例提供了一種數字十字準線,可用於特征對齊和測量。Quanta 3D FEG是一種先進的掃描電子顯微鏡,設計用於提供納米級樣品上的高分辨率圖像。可調光束電流和光斑大小,以及可選的CL和BSE探測器,可實現高精度的精確成像。憑借其先進的環境技術、多種樣品持有者以及集成的視頻/數碼相機,這款SEM為納米級研究提供了一個卓越的多合一解決方案。
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