二手 PHILIPS / FEI Quanta 3D FEG #9237481 待售

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PHILIPS / FEI Quanta 3D FEG
已售出
ID: 9237481
Focused Ion Beam (FIB) system SEM+ Ion column Omni probe system: Manual type GIS, PT.
PHILIPS/FEI Quanta 3D FEG是一種先進的掃描電子顯微鏡(SEM),允許使用多種分析技術對材料進行前所未有的3D成像。它對於高分辨率圖像和元素圖的采集具有0.7 nm的優異分辨率。FEI Quanta 3D FEG能夠檢測具有挑戰性的環境(如分辨率測試結果和樣品厚度等)中的納米級特征、變形和分子結構,使其非常適合半導體光刻、電路板分析、金相研究和故障分析等應用。它也可用於評估表面粗糙度、汙染程度和腐蝕狀態。PHILIPS QUANTA 3D FEG利用野戰發射槍(FEG)也稱為冷陰極發射槍。這項先進的技術使顯微鏡能夠在低壓和高壓成像上提供更好的性能。這是由於FEG能夠在廣泛的工作電壓範圍內保持非常穩定和一致的主光束電流,從而提高圖像質量和穩定性。此外,該槍有一個精細聚焦的光束,便於分析小特征以及檢測大面積的缺陷。顯微鏡配備了多種高級功能,以確保最大性能,並提供完整的工作流程。這些特點包括全自動的樣品交換系統、高速掃描控制器、快速掃描系統和自動化的低壓反向散射檢測器。它還有一個自動化的樣品溫度和氣體環境控制系統,即使是最具挑戰性的樣品也可以進行最佳分析。Quanta 3D FEG還提供了出色的圖像對比度和信噪比,可以從一系列樣本表面檢索到有價值的信息。顯微鏡的靈活性也為用戶提供了調節工作電壓以獲取廣泛信號的能力。這款多功能工具提供出色的分辨率和出色的成像功能,使其成為任何顯微鏡應用程序的理想選擇。從故障分析和半導體生產到高分辨率成像和3D成像,PHILIPS/FEI QUANTA 3D FEG提供可靠的結果,簡便準確。
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