二手 PHILIPS / FEI Quanta 3D FEG #9266789 待售
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ID: 9266789
Dual beam SEM
Ion beam resolution: 7 nm at 30 kV (Beam coincident point)
Electron beam resolutions:
High vacuum
0.8 nm at 30 kV (STEM)
1.2 nm at 30 kV (SE)
2.5 nm at 30 kV (BSE)
2.9 nm at 1 kV (SE)
Low vacuum:
1.5 nm at 30 kV (SE)
2.5 nm at 30 kV (BSE)
2.9 nm at 3 kV (SE)
Extended low vacuum mode (ESEM)
1.5 nm at 30 kV (SE)
Chamber vacuum:
High vacuum: < 6e-4 Pa
Low vacuum: 10 to 130 Pa
ESEM Vacuum: 10 to 4000 Pa
Pump down time (high-vacuum): < 3 Minutes
Power supply:
Accelerating voltage: 200 V - 30 kV
Probe current: up to 200 nA.
PHILIPS/FEI Quanta 3D FEG是一種場發射掃描電子顯微鏡（FE-SEM），能夠對所有領域的材料進行超高分辨率成像。這臺多功能儀器結合了FEI先進的野外發射槍（FEG）技術和飛利浦強大的掃描電子設備，為納米級成像和分析提供了強大的成像平臺。FEI Quanta 3D FEG是一款緊湊的設備，具有高分辨率成像，分辨率高達1納米。該系統具有高達50毫米的寬視野,能夠通過一次掃描非常詳細地捕獲樣本的大面積區域。該儀器的設計是為了方便地獲取即使是最復雜的三維結構的圖像。該儀器具有一個自動化的標本級，可以在x、y和z軸上移動到150毫米，這有助於促進大視場成像。該裝置還配備了先進的電子柱控制裝置，便於自動優化各種不同材料的最佳成像條件。這使得常規用戶可以輕松獲得高質量的結果。Quanta 3D還配備了通用的自動化標本處理機。這項先進技術可以改變不同類型成像的樣品放置，如低壓二次電子、強透鏡內二次電子、反向散射電子成像。Quanta 3D還可以執行高級元素分析（EDX和EBSD）和離子束分析（IBM和ISS）來獲取組成信息和亞微米細節。除了其眾多功能外，Quanta 3D還包括各種能夠實現高級數據分析和操作的軟件包。該軟件使用戶能夠訪問3D重建、曲面分析和數字圖像處理。這些功能使Quanta 3D成為一種理想的儀器,可用於對各種材料進行成像和表征。
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