二手 PHILIPS / FEI Quanta 3D FEG #9272543 待售

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ID: 9272543
Focused Ion Beam (FIB) system (4) Gases: XeF2 (Glass etch), Platinum, Iodine (Metal etch), Idep2 (Glass deposition) ETD Detector Does not include backscatter detector.
PHILIPS/FEI Quanta 3D FEG是一款高性能掃描電子顯微鏡(SEM),以野外發射槍(FEG)為特色,提供極致圖像質量和分辨率。該解決方案結合了高級成像和分析功能,可幫助解鎖來自微米級3D結構和材料的寶貴見解。憑借其先進的用戶界面,FEI Quanta 3D FEG使用戶能夠快速輕松地在各種科學和工業學科的廣泛應用程序中設置和拍攝令人驚嘆的3D圖像。PHILIPS QUANTA 3D FEG被設計用於一系列應用,如材料分析、薄膜表征和地形測量。它能夠實現低kV成像的擴展工作距離和高kV成像的精細結構和特征的詳細分辨率。其集成的最先進的電子束技術提供了對三維結構進行快速準確測量的能力。FEG是QUANTA 3D FEG最重要的特性。FEG是一種電子源,利用電場從冷金屬尖端發射高能電子,由可插入的彈藥筒固定到位。與傳統電子源使用加熱的燈絲產生電子不同,FEG允許更高分辨率的圖像。這是低能電子從其冷金屬尖端發出的結果。PHILIPS/FEI QUANTA 3D FEG還具有集成警報和自動氣體交換系統。該系統可確保真空穩定,在高、低真空SEM模式下均可達到最佳性能。Quanta 3D FEG構建在一個開放的平臺上,這使得它易於配置以滿足廣泛應用的需求。該平臺還擁有獨特的模塊化設計,更易於自信地探索新的應用程序。FEI QUANTA 3 D FEG還提供了廣泛的自動化功能。其中包括自動圖像優化工具、自動圖像質量控制和自動漂移校正。此外,SEM還提供了一整套互補的分析附件,這些附件便於進行多種表征技術,包括能量色散X射線分析(EDXA)和電子反向散射衍射(EBSD)。PHILIPS Quanta 3D FEG是一款先進的成像和分析工具,能夠為廣泛領域和行業的研究和發現做出寶貴貢獻。它是一個直觀的用戶界面和一系列功能強大的功能使其成為那些希望解開納米結構和材料秘密的人的理想解決方案。
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