二手 PHILIPS / FEI Quanta 3D SFEG #9315869 待售

PHILIPS / FEI Quanta 3D SFEG
ID: 9315869
Focused Ion Beam (FIB) system.
PHILIPS/FEI Quanta 3D SFEG是一種高性能掃描電子顯微鏡(SEM)。它結合了野外發射槍(FEG)的優異性能和創新的3D設計,以提高成像能力。FEI Quanta 3D SFEG的高分辨率為0.5nm,放大倍數高達光學顯微鏡的2000倍。這是分析微小顆粒,包括納米材料和蛋白質的理想選擇。PHILIPS Quanta 3D SFEG有一個集成的列,當成像各種樣本量時,可以提高圖像穩定性和準確性。柱子由一個FEG供電,提供高亮度和穩定的光束,即使在低電子電壓下掃描也是如此。這確保了密集樣品的精確成像。Quanta 3D SFEG還具有先進的電子探測器,可用於常規和專利3D探測器成像檢測模式。這包括獲得專利的Cazin 3D檢測器成像模式,為蛋白質等納米材料提供高靈敏度。設備還可以配置成正電荷和負電荷圖像,從而提供進一步的多功能性。另外,組合的FEG和3D檢測系統允許多種成像技術,包括EBSD(電子反向散射衍射)和各種電子顯微鏡成像技術。這使得PHILIPS/FEI Quanta 3D SFEG成為納米技術研究中許多應用的理想儀器。FEI Quanta 3D SFEG還配備了集成光束控制單元,允許對光束設置進行高度靈敏和精確的控制。這包括調整光束電流、電壓和光斑大小的能力-允許最適合樣品和應用的個性化設置。最後,PHILIPS Quanta 3D SFEG能夠同時支持單光束和多光束操作,從而可以一次從樣品上的多個點收集數據。這提高了一系列成像應用程序的吞吐量和準確性。總而言之,Quanta 3D SFEG是一款功能強大、用途廣泛的掃描電子顯微鏡,提供高分辨率、集成的3D探測器成像模式和光束控制機,用於對一系列納米材料樣品進行精確成像。
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