二手 PHILIPS / FEI Quanta 400 #293829906 待售
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ID: 293829906
Scanning Electron Microscope (SEM)
Included:
OXFORD INSTRUMENTS INCA X-Sight detector
OXFORD INSTRUMENTS INCA X-Stream and INCA mics controllers / Electronics
Centaurus detector component
PFEIFFER Vacuum compact cold cathode gauge.
PHILIPS/FEI Quanta 400是為高分辨率成像應用而建造的先進掃描電子顯微鏡（SEM）。它利用了多種成像和分析技術，包括反向散射電子（BSE）成像、X射線微分析、3D地形測定、粒徑和形態定量以及電壓對比度。這種能力的組合為研究人員提供了一個強大的工具，用於在微觀尺度上表征樣品的化學、結構和電氣特性。FEI Quanta 400的基礎平臺由高真空室真空設備、樣品級、電子光柱、樣本操縱系統、數字檢測器和計算機控制單元組成。電子光學柱裝有一個聚焦電子槍，設計用來產生一束具有可變光斑大小和能量的電子束，這些電子束可以快速聚焦並掃描整個樣品表面。帶電粒子與樣品表面相互作用，導致電子被發射或吸收，提供有關樣品組成和地形的信息。PHILIPS Quanta 400上的樣品級是一個5軸設計，為樣品的精確對準和定位而設計。利用舞臺，除了三維地形和雙光束成像之外，還可以獲得高放大倍率和廣域圖像。它能夠相對於電子流傾斜樣品，從而實現高度精確的成像控制。安裝在Quanta 400上的數字探測器是為快速成像和分析而優化的高分辨率、低暗電流探測器。它能夠接受最多兩個探測器的電子信號，允許並行成像和多通道分析。硬件還允許高級圖像處理功能,包括多尺度圖像增強、反卷積和閾值。計算機控制機器可以實現自動化、精確的樣本控制。軟件界面簡化了用戶與儀器的交互，使調整參數的過程更加輕松高效。此外,還可以將控制工具配置為執行自動斷層掃描、粒徑調整和高放大成像等任務。PHILIPS/FEI Quanta 400為用戶提供了功能強大的多模式SEM平臺,能夠提供多種成像和分析技術。FEI Quanta 400以其先進的電磁體、精確的取樣操作、數位成像相結合，在研究應用的最佳掃描電子顯微鏡中脫穎而出。
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