二手 PHILIPS / FEI Quanta 400 #9233931 待售
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已售出
ID: 9233931
優質的: 2010
Scanning Electron Microscope (SEM)
With EDS
Tungsten gun
Includes:
OXFORD INSTRUMENTS INCA X-Sight detector 6650 ATW2
INCA X-Stream & INCA Mics
BSE Detector with different filter
SE Detector
Low vacuum SE Detector
Stage accessories
Operating system: Windows XP.
PHILIPS/FEI Quanta 400是一種掃描電子顯微鏡(SEM),利用電子束誘導的二次電子成像獲得樣品的高度詳細、高度放大的圖像。它能夠放大到400,000倍,使用戶可以看到小到1nm的功能。在搭配選裝的Everhart-Thornley設備時,FEI Quanta 400也可以作為掃描透射電子顯微鏡(STEM)操作。PHILIPS Quanta 400具有透鏡全場數字成像系統,使顯微鏡能夠產生樣品表面的高分辨率圖像。它有兩個獨立的傾斜階段,一個用於水平旋轉,一個用於垂直旋轉。這使操作員能夠精確調整樣品的傾斜度,這對於獲取高質量的圖像是必不可少的。除了透視數字成像單元外,Quanta 400包含陰極發光(CL)成像機。此工具允許可視化標準SEM無法看到的示例特征。CL成像對於獲取礦物學特征圖像和研究材料的光學性質特別有用。PHILIPS/FEI Quanta 400由高性能場發射槍(FEG)電子源供電,產生高能電子束,然後聚焦在樣品表面。光束電流和光束直徑可以為每個樣品定制,在操作顯微鏡時允許最大的靈活性。FEI Quanta 400用途顯著,可用於多種研究應用。它通常被工業和學術研究者用於故障分析、芯片故障分析、能量色散X射線光譜(EDS)、生物標本成像和納米尺度表征。PHILIPS Quanta 400是一種極好的掃描電子顯微鏡,為研究人員提供高分辨率的圖像和對電子束的精確控制。它的CL成像資產和FEG電子源使它能夠產生獨特的、信息豐富的標本圖像到納米級。
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