二手 PHILIPS / FEI Quanta 400F #9379744 待售

ID: 9379744
Scanning Electron Microscope (SEM) X, Y Stage: 100 mm High resolution schottky field emitter Everhart-Thornley Secondary electron detector Operating system: Windows XP SP3 Does not include beam deceleration.
PHILIPS/FEI Quanta 400F是為生命和材料科學研究成像而設計的掃描電子顯微鏡(SEM)。它將卓越的性能與可靠的設計和可靠的操作相結合,使其成為各種應用程序的理想選擇。FEI Quanta 400F配備獨特的雙級冷場發射槍(FEG),提供出色的光束質量和非常低的標本充電。這使得即使是最復雜的樣品也可以進行高分辨率成像,而不會造成光束損壞的風險。另外,200-W槍具有廣泛的加速電壓和光束電流,允許在低真空、中、高真空模式下成像。顯微鏡是可變真空SEM,意味著可以針對不同的應用靈活調整樣品環境。該室可以被疏散到10⁻⁴ mbar,使生命科學成像,較低的工作距離使得它特別適合生物研究。同時還提供了中高真空模式,可以選擇打開氣體噴射系統以提高真空度。PHILIPS Quanta 400F采用最先進的EDAX Ultimate X射線系統進行元素分析,並配備集成或外部EDS探測器。這樣就能夠對樣品進行精確、準確的定量元素分析,並將輻射造成損害的風險降至最低。顯微鏡還配備了高清數碼相機來捕捉最好的圖像。它能夠產生具有卓越對比度和分辨率的全彩3D圖像。另外,相機有30位動態範圍,允許精確的減法和部分圖像的選擇,以進一步增強對比度。總之,廣達400F是生命和材料科學成像的理想選擇。其優越的性能、靈活性、可靠的操作和高分辨率成像相結合,使其成為值得信賴的科研儀器。
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