二手 PHILIPS / FEI Quanta 450 FEG #293747589 待售
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ID: 293747589
Scanning Electron Microscope (SEM)
PFEIFFER Compact cold cathode gauge
Electron beam resolution:
High vacuum:
1.2 nm at 30 kV (SED)
2.9 nm at 1 kV (SED)
Low vacuum:
1.5 nm at 30 kV (SED)
3.1 nm at 3 kV (SED)
Extended low-vacuum mode
1.4 nm at 30 kV (SED)
Detectors:
Everhart-Thornley SED
Low vacuum SED
Gaseous SE (used in ESEM mode)
IR-CCD
Chambers:
High-vacuum: < 6*10-4 Pa
Low-vacuum: 10 to 130 Pa
ESEM-vacuum: 10 to 4000 Pa
X-Y-Z-Tilt-rotate motorized stage:
X = Y = 100 mm
Z = 60 mm
T= +70° to -5°
System control:
Graphical User Interface (GUI)
Resolution: 1280 x 1024
Keyboard
Optical mouse
Operating system: Windows XP
LCD Display, 19"
DVD / RW
(2) PC.
PHILIPS/FEI Quanta 450 FEG掃描電子顯微鏡（SEM）是一種研究生物、工業和其他材料中納米尺度特征的最先進的儀器。它的野外發射槍（FEG）源提供0.7埃的終極分辨率和高水平的亮度和穩定性。顯微鏡能夠成像樣品的磁性、電性、光學和機械特性。FEI Quanta 450 FEG SEM有幾個顯著的特點。Quanta 450的大型探測器允許超高分辨率成像,噪聲水平極低。其用戶控制的光束遮擋器和發散檢測器電子設備提供了更好的對比度和靈活性。Quanta 450的「智能SEM」模式通過根據樣品和條件自動優化參數，使顯微鏡變得用戶友好。Quanta 450的特點是有幾種成像模式。這些包括低真空、高真空和環境成像。它還包括差分相位對比度濾波、帶相移傾斜對比度等幾種成像濾波器。這些能夠觀察樣品中的超細特征。Quanta 450還包括一個反向散射電子檢測器，允許對高景深的特征進行成像，而其二次電子檢測器則提高對比度分辨率。無濾鏡的圖像濾鏡使成像過程自動化，而其電動級則簡化了在大型樣本中的導航。Quanta 450配備了低真空系統，在保持樣品完整性的同時將熱損傷降至最低。Quanta 450能夠在室溫下成像有機樣品。最後，飛利浦Quanta 450 FEG掃描電子顯微鏡是一種先進的納米成像儀器。它具有用於超高分辨率成像的野外發射槍（FEG）源，以及幾種成像模式、濾波器和探測器。Quanta 450的機動化級還簡化了樣品的導航，而其低真空系統則確保樣品的完整性和低熱損害。
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