二手 PHILIPS / FEI Quanta 650 #293621244 待售

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ID: 293621244
Scanning Electron Microscope (SEM) EDS Automation (2) BRUKER XFlash-5030 EDS X-Ray spectroscopy Tungsten filament Texture analysis Chamber scope for real time observation Environmental: Hi-vac, Lo-vac Monitor Display Operating system: Windows Detectors: EVERHART-THORNLEY Secondary Quad solid state BSE Low vacuum SED (Large field) Gaseous SED (GSED) 5-Axis motorized stage: X: 150 mm Y: 150 mm Z: 65 mm R: n x 360° T: - 5° to 70° Hold up to 14 polished block (30 mm2 round) or 12 polished thin sections Vacuum mode: High vacuum: (<6*e-4 Pa) Low vacuum: (10-130Pa) and ESEM(10-2600 Pa) Air-cooled turbo with mechanical PVP Manual Tungsten emitter: 1-30 kV.
PHILIPS/FEI Quanta 650是一款高性能掃描電子顯微鏡,專為高級成像和分析而設計。它在可變壓力、超高真空和低真空模式下運行,提供靈活性、可靠性和較低的長期維護成本。液金屬離子源(LMIS)用於產生高度聚焦的電子束,用於成像和分析。光束提供1 nm探頭尺寸和3 kV著陸電壓,可調節電流介於0.01 pA和20 nA之間。這樣,成像的分辨率可降至0.6 nm,光譜學的分辨率可降至0.4 nm。成像系統設計用於明場、暗場和差分對比度成像,以及與各種探測器的掩埋接口的可視化。它還為自動化的樣本位置和對齊提供了智能自動化。一種集成的野戰發射槍(FEG)可以讓極穩定、高度聚焦的光束快速產生。FEG光束提供0.15至0.2 nm的分辨率,允許對納米結構進行極其詳細的成像。現有各種分析工具,包括X射線光譜、電子能量損失光譜(EELS)和能量過濾成像(EFI)。EELS提供原子水平樣品的化學和形態學分析,而EFI提供復雜樣品中重元素的選擇性成像。此外,強大的信號處理單元(SPU)使掃描、光譜和其他技術的同步能夠完全自動化。SPU還在測量和分析方面提供了寶貴的反饋,包括對結果的統計分析。FEI Quanta 650還配備了自動操縱樣品的機器人系統。它可以用來裝載和卸載樣品,以及對樣品進行精確的操縱,使最具體的分析得以進行。該系統有助於提高結果的重復性,減少分析時間。總體而言,PHILIPS Quanta 650是一款功能強大、高效且精確的掃描電子顯微鏡,可為各種成像和分析任務提供快速可靠的結果。LMIS和FEG光束源的結合,加上先進的成像分析能力和機器人系統,使其成為研究和工業應用的理想選擇。
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