二手 PHILIPS / FEI Sirion 200 #293814372 待售
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ID: 293814372
優質的: 2003
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM)
Resolution: 1.5 nm at 10 kV or higher, 2.5 nm at 1 kV
Voltage: 500 V to 30 kV
Magnification: 30x to 600,000x
Detectors:
Secondary Electron (SE) detector
Backscattered Electron (BSE) detector
In-lens detector
Stage:
X-Y stage travel: 50 mm x 50 mm
Stage rotation: 360 degrees
Stage tilt: -15 to +75 degrees
Compucentric rotation
Working distance: 1 mm to 60 mm
(5) Axis motorized stage
Computer control
2003 vintage.
PHILIPS/FEI Sirion 200掃描電子顯微鏡（SEM）是一種高性能顯微鏡，提供多種成像能力和分析能力。它是Sirion系列電子顯微鏡的最新版本，具有獨特的模塊化設計，允許用戶根據實驗室的具體成像和分析需求定制顯微鏡。FEI Sirion 200以掃描電子和傳輸電子兩種主要模式運行。在掃描電子模式下，圖像是通過在樣品表面上掃描高能電子束而形成的。電子與標本中的內在結構相互作用，回饋被放大並轉換成圖像的信號。圖像可以在10 x到250,000 x之間的放大倍數獲取，並以高達兩納米的分辨率顯示。在透射電子模式下，光束通過樣品，使非常精細的結構細節可視化。光束聚焦到一個很小的區域，並在顯微鏡階段通過一個薄標本傳輸。透射的電子由於樣品材料的厚度不同而形成對比圖，可以以高達一納米的分辨率來解析。飛利浦Sirion 200還提供多種分析能力，如能量色散光譜（EDS），可用於化學分析標本；電子反向散射衍射（EBSD），可用於分析材料的晶體學結構；和元素映射，可以用來映射標本上元素的分布。Sirion 200配備了許多增強功能，如數字線掃描，允許以多角度獲取圖像以改進3 D成像；背景噪聲降低的高靈敏度探測器；以及最先進的用戶界面，易於使用，使用戶能夠快速高效地導航顯微鏡。PHILIPS/FEI Sirion 200 SEM是任何需要具有先進圖像分析和微結構分析能力的強大掃描和透射電子顯微鏡的實驗室的完美儀器。
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