二手 PHILIPS / FEI Sirion 200 #9267884 待售

PHILIPS/FEI Sirion 200是一種高度先進的掃描電子顯微鏡（SEM），用於觀測和分析標本的結構特征。其靈活、用戶友好的設計允許多種應用，如橫截面成像、納米材料分析和掃描電子顯微鏡（SEM）成像，以確定各種材料的質量。這款SEM配備了鎢絲槍和一種電子探測器，提供了出色的亮度、對比度和分辨率。該槍的先進特性允許對納米級粒子以及納米結構進行高質量的成像。這使研究人員能夠準確評估他們研究的樣本的質地、組成和其他特征。這種SEM由於其高度先進的樣品更換系統，也能夠收集大小樣品。這使得研究人員能夠快速、準確地分析各種不同材料特性的標本。FEI Sirion 200還配備了計算機化圖像分析模塊，標誌著圖像縫合和圖像分析能力的顯著提高。該模塊能夠準確確定樣品的元素組成，因此有助於評估樣品的結構和組成。PHILIPS Sirion 200也有極強的環境和電氣測試能力，讓研究人員能夠快速分析他們的標本有任何缺陷或異常。Sirion 200還具有在高真空環境中運行的能力，這對於某些精細的成像和分析過程很重要。這款掃描儀還配備了多種其他功能，如雙光束SEM成像、定向光束SEM成像、數字變焦、3D圖像分析以及數據采集和存儲。儀器具有存儲功能的能力，從而使用戶能夠輕松地回憶已經存儲的工作。總體而言,PHILIPS/FEI Sirion 200是一款功能強大且用途廣泛的SEM,能夠提供各種樣品的詳細圖像和分析。它的用戶友好和先進的特點使它成為研究人員和科學家的一個很好的選擇，誰需要快速和準確地分析他們的標本。