二手 PHILIPS / FEI Sirion 400 #293830599 待售
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ID: 293830599
晶圓大小: 4"
Scanning Electron Microscope (SEM), 4"
E-Beam lithography
Resolution: 2 nm
Tilt: 60°
NPGS System.
PHILIPS/FEI Sirion 400是一款高分辨率掃描電子顯微鏡(SEM),能夠產生目前市場上可用的最高分辨率圖像。FEI Sirion 400配備了肖特基場發射槍(FEG)電子源,為出色的圖像對比度提供了卓越的動力。該系統能夠產生小至2納米的細節。這意味著科學家和研究人員可以觀察和研究現有的最小細節。飛利浦Sirion 400的精確度也令人難以置信,可以讓用戶準確測量肉眼看不到的粒子和表面。利用其可變的工作距離,可以看到0.1納米到20厘米的樣本量。Sirion 400的電子探測器靈敏度很高,是生物標本分析等精細研究項目的理想選擇。使用可集成到系統中的雙光束檢測器(DMD),用戶可以同時收集樣品的低分辨率和高分辨率圖像。PHILIPS/FEI Sirion 400的大腔室設計用來容納巖石、土壤、沈積物和纖維等更大的樣品。它的快速掃描速度與自動對焦鏡頭相結合,可以實現高速成像,並且通過其車載軟件用戶可以快速準確地確定掃描材料的確切位置。現在可以安裝多樣更換器,以減少設置和操作時間。用戶可以在常規視圖或專門的360度視圖中查看示例,以進行更精確的分析。先進的激光對準系統確保每次掃描都與前一次完全匹配,從而最大限度地減少了將圖像縫合在一起時的任何誤差。FEI Sirion 400是一種強大而精確的掃描電子顯微鏡,非常適合研究人員和科學家尋找查看和分析最微小的物體。憑借其高分辨率相機、多探測器能力以及先進的掃描速度,這一儀器將使研究人員能夠捕捉到他們樣品材料的詳細圖像和測量結果。
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