二手 PHILIPS / FEI Sirion #293792341 待售
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ID: 293792341
Scanning Electron Microscope (SEM), parts system
Model no: PW 2046/31
AMETEK PV7761/65 ME
IGPU
IGPL
(3) 4022 262 1720
4022 268 00412 Module
4022 261 49401 S Column FEG
4022 261 3756
(2) 20089-K 9432 034 00201
22609-M
MDC 997284-2000
GIP-25-0
4035-272-26092-A
4022-298-00793
4022-293-47911 1027639 6-Channel BSD Amplifier
4022-261-45692 GIS Rack 60TE
EDWARDS APG-MP-NW16 ST/ST
EDWARDS AIM-SI1-NW25
EDWARDS IPV25PKA
EDWARDS APG/MP/NW16 ST/ST
Card cabinet:
4022-262-53941
4022-261-43891
4022-192-93661
Tall cabinet:
GAGNE 1012
Optics rack with cards:
(2) SCDR3
OPMS
MDLN/I
DLCB/SN
(2) QDCR/SN
OPSS
4022-192-92842 with cards:
DLCB/SN
OPMR
QDCR/SN.
PHILIPS/FEI Sirion是一款提供無與倫比成像能力的高端掃描電子顯微鏡（SEM）。FEI Sirion是一款用途廣泛、易於使用的SEM，可用於多種材料和應用。飛利浦Sirion憑借其高分辨率、大景深和長工作距離，提供卓越的成像性能。Sirion具有很大的視野，可以在高分辨率下對高達8.5英寸的標本進行成像。高端SEM的增強分辨率為0.5nm,最大工作距離為21mm。這使用戶能夠捕捉小特征和結構的清晰圖像。PHILIPS/FEI Sirion的高級設計還包括一系列樣品持有者和舞臺，以容納廣泛的樣品。通過使用不同的階段，用戶可以輕松分析各種樣本。FEI Sirion也兼容各種影像及分析軟體，讓使用者可以存取高端影像功能。PHILIPS Sirion采用交錯高壓模塊,20kV 30kV。這使用戶能夠優化成像性能和分辨率,同時確保樣品安全。交錯高壓模塊也提高了生成圖像的對比度。Sirion的配置還包括內置的計算機和監視器，允許用戶輕松地控制顯微鏡和查看圖像。該系統還配備了發光二極管（LED）照明系統，使用戶能夠在可見光範圍內成像樣本。總體而言,PHILIPS/FEI Sirion是一款高端SEM,可為各種材料和應用提供出色的成像功能。利用其高效的設計、較長的工作距離和成組的樣品持有者，用戶可以輕松地準確地分析和解釋樣品。FEI Sirion是一個偉大的解決方案，對於那些需要一個強大的和用戶友好的掃描電子顯微鏡。
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