二手 PHILIPS / FEI Sirion #9039275 待售

ID: 9039275
Scanning Electron Microscope (SEM) Includes: (2) Modes: Ultra High Resolution (UHR) and High Resolution (HR) Complete range of specimen holders SE and BSE imaging Specifications: Resolution: 1.5 nm HT: 500V~30kV Resolution: 1.5nm Vacuum: High Vacuum Magnification: 36x~800kx Tilt: -15° to +75° Rotation: 0º to 360º.
PHILIPS/FEI Sirion是一種高分辨率掃描電子顯微鏡(SEM)。這種多功能儀器旨在為研究人員提供納米尺度的生物標本、金屬、聚合物和其他材料的詳細圖像和精確分析。FEI Sirion能夠制作圖像和數據,其精度是光學顯微鏡的15倍,使其成為任何研究實驗室的寶貴工具。這個sem配備了一個高分辨率的伽利略III電子光學柱,能夠掃描多達15 nm的樣本量。該柱是為最佳效率而設計的,同時在焦點、光束位置和激發能量方面仍提供高度自由度。該儀器在一個自我校正軟件包上運行,該軟件包允許各種成像設置,以產生樣品的高分辨率3D圖像。飛利浦Sirion有一個6軸壓電級,可用於在成像時調節樣品。這允許對圖像控制進行微調以獲得最高分辨率的結果。該儀器還設有一個用於高精度舞臺定位的電動傾斜式插件,以及一個能夠容納各種樣本量的大型標本室。此外,儀器還配備了可選的量熱計設備,允許用戶在成像過程中測量樣品溫度。Sirion還配備了先進的高速低劑量成像系統,該系統旨在捕獲圖像而不會損壞細膩的樣品。該裝置包括一個自動進紙機,能夠自動調整成像參數以適應不同的樣品條件。該儀器還具有一系列用於進一步分析的原位技術,包括EBSD、EDX和PED。這種多功能掃描電子顯微鏡是目前市場上最強大的儀器之一。它提供高精度的圖像和數據,讓研究人員能夠精確地分析他們在納米尺度上的標本。PHILIPS/FEI Sirion具有廣泛的特性和功能,是任何研究實驗室的理想選擇。
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