二手 PHILIPS / FEI Tecnai 20 S-Twin #293812127 待售

PHILIPS/FEI Tecnai 20 S-Twin是一種掃描電子顯微鏡（SEM），具有提供亞納米級和宏觀級成像能力的獨特能力。該顯微鏡配備了鏡頭內熱重力物鏡和高分辨率環境掃描電子探測器。透鏡內熱重力物鏡在近中視場提供了很好的分辨率，而環境掃描電子探測器則能夠觀察納米結構和表面形態。這項尖端技術使用戶能夠觀察到生物和無機主題中的大量形態特征。SEM提供了一系列的樣品探測能力，包括明暗場成像、可變壓力模式、陰極發光和反向散射電子探測器。它還具有自動雙傾斜訪問功能,允許用戶動態糾正視圖平面中的錯誤對齊。這一先進特征在成像彎曲或不規則材料時特別有用。FEI Tecnai 20 S-Twin兼容雙面卡盤和最新的樣品持有者，如基材和假人。這種靈活性使您能夠使用不同的樣本類型執行各種檢查技術。飛利浦Tecnai 20 S-Twin還具有強大的軟件功能，如圖像分析和自動模式識別。其先進的圖像處理工具以及存儲和跟蹤圖像數據的能力使您能夠快速地處理和分析圖像信息。它的軟件還擅長配置顯微鏡的參數，讓你最大限度地提高它的成像能力。Tecnai 20 S-Twin是需要高分辨率圖像和一系列分析工具的微觀研究的理想工具。其優越的性能和柔韌性使其適用於包括表面計量、納米制造和半導體缺陷分析在內的多種應用。這種最先進的顯微鏡能夠為用戶提供他們所需的高質量成像能力，以快速準確地取得可靠的結果。