二手 PHILIPS / FEI Tecnai F20 #9304082 待售

PHILIPS/FEI Tecnai F20是為工業和學術用途而設計的先進掃描電子顯微鏡（SEM）。它提供了高水平的性能和多功能性，能夠對表面特征、粒子和納米尺度的樣品進行成像。F20還配備了廣泛的分析能力，包括元素微觀分析、反向散射分析和X射線光譜，使其成為微電子學、半導體器件制造、材料科學研究、微結構分析和藥物發現的理想工具。F20的特點是有一個環境室，該室的最高溫度為10-7 torr，溫度為-50°C至+150°C，使其能夠處理各種樣品類型和條件，如反應性樣品、炸藥和低溫樣品。它的EDX探測器允許使用高達128K通道的快速X射線光譜，而一個電動級使得三個維度的導航成為可能。F20配備了極高穩定性水平的200kV場發射電子槍，提供了10 pA至500A的電流範圍和優越的信噪比。它還具有深度自動掃描電子顯微鏡，能夠進行各種樣品運行。這包括光學光刻和晶圓分析、輪廓測量和可視化、自動傾斜和翻轉以及高分辨率成像。除了成像功能外,F20還提供一系列分析選項。該系統結合了EDX和WDX設備，能夠進行礦物學、元素、固態和生物分子分析。利用Ever架設的真空傳輸裝置，該機器還能夠將樣品引入真空環境。總體而言,FEI Tecnai F 20是一種高級成像和分析工具,可提供強大的性能和多重分析功能。它可以為工業和研究環境中的多種應用提供全面的解決方案，包括微電子學、半導體器件制造、材料科學研究、微結構分析和藥物發現。