二手 PHILIPS / FEI Tecnai F20 #9375418 待售

PHILIPS/FEI Tecnai F 20掃描電子顯微鏡（SEM）是一種高端科學儀器，使研究人員能夠在各種環境中獲得樣品的高分辨率圖像。F20配備了先進的5軸跟蹤設備，能夠精確準確的樣品移動，允許高分辨率成像能力。此外，該儀器還配備了高性能的Gatan SFEG探測器，在廣泛的放大倍數上提供了出色的對比度和分辨率。F20采用多功能、雙傾斜、10位采樣級設計,在成像采樣方面具有最大靈活性。樣品階段設計用於支持直徑不超過100毫米、重量不超過3公斤的樣品。5軸跟蹤系統確保樣品級與樣品完全對齊，以實現精確的成像。F20可以在20千伏的最大陽極電壓下操作，提供出色的對比度和分辨率。F20裝有場發射槍（FEG）電子源，提供了更高的分辨率和更大的穩定性。電子源能夠產生接近原子水平的圖像，而一系列探測器選項讓研究人員可以在亮場、暗場以及不同厚度和化學成分的材料成像之間做出選擇。F20還提供一系列數字成像功能，包括單色成像、光學變焦和彩色成像。該單元還支持一系列成像技術，如反向散射電子成像和能量過濾成像，可以幫助研究人員深入了解復雜的結構。為確保操作方便和安全,F20配備了隔音罩和提升臺,以及一系列安全功能,如自動安全開關和氣體處理安全排氣。此外,該機器還配備了方便的控制面板,能夠快速高效地運行。FEI Tecnai F20掃描電子顯微鏡是一種先進的高端儀器，旨在為研究人員提供近原子分辨率的高分辨率材料圖像。F20具有多種用途的設計、廣泛的成像功能和安全功能,是各種研究應用的理想儀器。