二手 PHILIPS / FEI Tecnai F30 #293607314 待售

ID: 293607314
Transmission Electron Microscope (TEM) Double tilt holder.
PHILIPS/FEI Tecnai F30是一種掃描電子顯微鏡(SEM),利用場發射槍(FEG)產生高分辨率和高質量的電子束。這種先進的儀器能夠成像各種樣品,包括細胞、蛋白質和各種厚度和成分的金屬等生物樣品。還可以采用反向散射電子成像和能量色散X射線光譜(EDS)等專門成像模式來揭示關鍵的結構細節。FEI F30利用熱電子FEG電子源產生高分辨率電子束。這種FEG槍的設計利用了當施加電壓時電子從絲狀陰極的尖端發出的事實。產生的電子束電流極低,光斑尺寸小,可用於高分辨率成像。這種電子源可以在高達30 kV的加速電壓下操作,在10 mm的工作距離下分辨率為2.0 nm。PHILIPS TECNAI F 30還設有一個環境樣品室,可與內置階段冷卻系統配合使用,在成像過程中將樣品保持在最佳溫度。該系統適用於對細胞、蛋白質等生物樣品進行成像,沒有任何額外的真空系統。樣品室還配備了自動XYZ軸,允許在大面積上進行掃描,以及各種鏡頭,以適應不同的放大倍率水平。FEI TECNAI F 30提供了一系列可用於獲取樣品基本信息的成像模式。反向散射電子成像(BSE)可以用於獲取表面結構的原子級圖像,而能量色散X射線光譜(EDS)可以提供樣品化學成分的詳細分析。該儀器還提供一系列自動化的超高真空處理選項,包括濺射塗層和電子束光刻。綜合FEI Tecnai的特點F30提供了一個強大而通用的SEM解決方案,用於獲取高分辨率成像以研究一系列樣品。這種掃描電子顯微鏡可用於多種應用,包括用於醫學研究的細胞成像、材料科學研究、半導體器件制造和故障分析。
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