二手 PHILIPS / FEI Tecnai F30 #9195579 待售
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ID: 9195579
Transmission Electron Microscope (TEM)
Field Emission Gun (FEG)
High voltage: 300 kV
Super twin lens
Emitter: Schottky
HRTEM (Spatial resolution: 0.18 nm)
STEM (Spatial resolution: 0.20 nm)
Convergent Beam Diffraction (CBM)
Single tilt specimen holder
Normal double tilt holder
Low background double tilt holder
Nanoindenter / STM Holder
Camera / Detectors:
High energy resolution X-ray SDD detector
CCD GATAN US4000 Ultrascan
Pixels: 4K x 4K
14-Bits
EFTEM GATAN GIF:
Energy resolution: 1.2 eV
EDX EDAX:
Collection angle: 0.1 srad
Energy resolution: 136 eV
HT-Tank 300kV FEG-EMC.
PHILIPS/FEI Tecnai F30掃描電子顯微鏡是一種功能強大的微觀分析工具，供各學科的研究人員使用。該顯微鏡采用先進的電子光學系統，結合了多項創新，提供了最高的成像和表征性能。該系統的核心是一個場發射電子槍，它產生一個低能、高度聚焦的光束。這樣可以實現最高的橫向分辨率、卓越的景深和出色的線對對比度。柱設計力求最大限度地減少色差和球差,具有較大的聚焦深度和卓越的對比度傳遞函數（CTF）。此外，顯微鏡還配備了先進的InLens探測器。該探測器捕獲電子而無需重新聚焦，並提供了更高的靈敏度和準確性。這使得它成為高放大成像和大面積分析的理想選擇。FEI F30還配備了新設計的半導體探測器，可實現高度通用的成像。該探測器能夠捕獲低能電子，同時仍保持區分樣品內不同元素的能力。它是分析薄膜的絕佳選擇，因為它具有高速成像能力。此外，顯微鏡還可與多種探測器配合使用，如X射線探測器、電子反向散射探測器、高角度環形暗場探測器，進一步擴展其能力。這些技術有助於各種任務，如高分辨率元素分析和曲面重建。飛利浦TECNAI F 30還具有高加速電壓和長工作距離。這種組合使得顯微鏡成為更高景深成像的絕佳選擇，允許從樣品中獲得更大的清晰度。因此，F30是各種分析和成像應用的絕佳選擇。
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