二手 PHILIPS / FEI Tecnai F30 #9224715 待售

PHILIPS/FEI Tecnai F30是一種掃描電子顯微鏡（SEM），設計用於產生樣品的高分辨率圖像，最大放大倍率高達400,000x，分辨率為1.0納米。它配有真空系統，能夠在幾秒鐘內對樣品進行成像，適用於靜態和動態過程的成像。FEI F30具有場發射電子槍，可產生高亮度、低發散電子束以實現最佳成像。PHILIPS TECNAI F 30提供標準、低和非常高的三種掃描放大倍率,可為各種樣品提供出色的對比度和分辨率。整個視野範圍從0.6毫米到20毫米，可以快速準確地成像大樣本區域。在不犧牲數據點精度的情況下,可以使用獨特的掃描速度範圍來生成高分辨率圖像。PHILIPS/FEI F30使用自動化成像工作流,從而實現高效的樣品準備和觀察。對於納米材料的成像,Tecnai F30支持多種自動對準和導航功能,包括360°高級螺旋掃描。可使用70 mm高度和200 mm寬度的外部級行程範圍,方便導航樣品。飛利浦Tecnai F30有幾種成像模式，包括反向散射電子、二次電子、反射電子和全色成像。它還能夠用集成的EDX系統測量地形和元素表面映射。PHILIPS F30具有寬敞的樣品室,可容納直徑不超過175毫米、高度不超過80毫米的樣品。FEI TECNAI F 30具有高級成像功能,允許用戶自定義圖像並添加註釋。自動反向散射電子成像可用於生成3D圖像,而Photostitch成像能夠創建全景圖像。PHILIPS/FEI TECNAI F 30還支持圖像比較和粒子分析等分析工具，以快速識別樣品中的任何潛在缺陷。FEI Tecnai F30提供了最大的性能、靈活性和可擴展性,以滿足不同映像任務的需求。TECNAI F 30堅固耐用,確保了可靠的操作,並具有自動遠程訪問和直觀用戶界面等功能,為高分辨率成像提供了可靠的系統。