二手 PHILIPS / FEI Tecnai F30 #9277568 待售
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已售出
ID: 9277568
System
Gun
FEG Accelerator
Outer vessel 300 kV
TEM System:
Compustage
TEM Rack
STEM Rack
HT Tank
HT Cable
Water rack
Hand panel L, USB
Hand panel R, USB, trackball
TMP Controller
ODP System
Dual monitor
Low back ground double tilt holder
Loading tool
EDWARD RV3 Vacuum pump
Detector:
GATAN 894 CCD Camera
Water flow meter
Water tube
HAADF Stem detector
Personal Computer (PC):
Super micro TEM PC
PCI6110 For STEM
5 Ports
LAN card
Dual monitor card
Key board
Mouse
Utilities:
Main chiller
Air compressor
No objective lens chiller
No service tool box
No bake out tool
No EDS.
PhillipsPHILIPS/FEI Tecnai F30掃描電子顯微鏡（SEM）是一種獨特而強大的材料分析儀器。它被設計成提供精湛的表面地形圖像，高分辨率的基本成分分析，以及快速可靠的樣品掃描。這種用途廣泛的顯微鏡提供亞納米分辨率的圖像，可以實時觀察使用可變壓力或可變角度成像。它配備了冷場發射槍，允許最小電子泄漏和低樣品汙染。這非常適合與硬和高長寬比樣品一起使用。該系統還配備了「智能移動性」示例處理解決方案,可實現快速高效的樣本交換。樣品制備和圖像采集效率高，能夠在幾分鐘內為用戶提供準確的圖像。FEI F30配備了先進的數字和模擬電子設備以及先進的軟件來優化您的成像能力。通用軟件包允許檢測、調整和跟蹤各種成像參數的光束設置。以及可用於的各種模式；多鏡頭和漸進掃描，高放大成像，掃描材料，自由移動電子操作和樣品傾斜角度分析。PHILIPS TECNAI F 30具有獨特的「EasyTEM」模式，通過為操作員提供根據所需樣本數據類型簡單選擇預定義成像條件的能力，簡化了操作基礎。FEI TECNAI F 30結合了可靠的性能和用戶友好的控制，使其成為廣泛科學應用的理想選擇。這種顯微鏡是材料科學的寶貴工具，因為它提供了關於樣品材料的物理和化學性質的詳細信息。其可靠靈活的設計使得它成為該領域學生、研究人員和從業人員的一個有吸引力的選擇。
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