二手 PHILIPS / FEI Tecnai F30 #9380532 待售

PHILIPS/FEI Tecnai F30是一種掃描電子顯微鏡（SEM），為材料研究提供出色的成像能力。FEI F30是多種SEM應用的通用平臺。它是一種易於操作的高性能設備,適用於元素分析和表面形態表征等應用。PHILIPS TECNAI F 30具有高分辨率成像模式，對各種尺寸的樣品提供大於0.2 nm的分辨率。獨特的色譜柱設計能夠在所有放大倍數下實現無色差操作,從而獲得卓越的成像效果。PHILIPS/FEI TECNAI F 30的超低kV選項範圍從幾百伏到30 kV不等,可以產生各種樣品的圖像。Tecnai F30還具有一系列分析能力，可詳細了解樣品的組成和結構。其能量色散X射線光譜（EDS）系統提供了一個特殊的能量分辨率元素分析。包括一個高靈敏度的能量過濾檢測單元，在5 keV時提供超過90%的檢測效率。多相鄰層分析（MALA）允許在一次掃描中對樣品的最多三層進行表征。此外，PHILIPS/FEI F30使用野外發射FEG槍進行快速可靠的結果，並使用法拉第二次電子探測器進行精確的產生電流測量。它有一個分裂電子槍排列成像，EDS，和俄歇漏電流成像（ADCI）在一個掃描。最後,PHILIPS Tecnai F30采用易於使用的控制機器,具有全彩色觸摸板界面、可變圖像旋轉和自動換樣器。通用、直觀的控制軟件允許操作、設置和數據分析。這為任何技能級別的用戶提供了簡化、直接的操作。總之，F30是一種高性能掃描電子顯微鏡，具有優異的成像能力和廣泛的分析能力。其多才多藝的設計允許輕松操作和設置,以及高級分析功能。因此，FEI Tecnai F30是材料表征和研究的絕佳選擇。