二手 PHILIPS / FEI Tecnai G2 F20 UT D214 #293607886 待售

PHILIPS/FEI Tecnai G2 F20 UT D214是一種用於高級成像和表征應用的雙束掃描電子顯微鏡（SEM）。這臺多功能顯微鏡的設計目的是在學術、工業和材料研究行業內提供無與倫比的視覺分辨率和分析能力。FEI Tecnai G2 F20 UT D214利用了令人印象深刻的成像和分析技術集合,包括廣闊的視野和集成的FIB/ESEM功能。高分辨率肖特基發射器和低溫冷卻的高通量電子源使得這種顯微鏡的先進掃描能力成為可能。這有助於在大視野內提供樣品地形的高分辨率成像。放大倍率範圍從5倍到2,000,000倍不等,可執行各種微觀成像任務。此外,可變壓力成像、可變壓力斷層掃描、3D X射線圖像和大型樣品室處理等高級成像功能也很容易獲得。PHILIPS Tecnai G2 F20 UT D214集成的FIB/ESEM功能對於材料測試至關重要。它的DualBeam™技術允許以高分辨率對樣品進行成像和交互式去除材料以進行納米級分析。顯微鏡的DLAN電子束光刻技術還允許直接書寫表面的材料圖樣和結構，使研究人員能夠更有力地控制表征。Tecnai G2 F20 UT D214還提供了增強的分析能力，包括高級能量和波長色散光譜（EDS/WDS）。這允許用戶進行元素分析並識別樣本的各個階段。元素可以很高的精確度和不同的濃度來識別。此外，儀器上的衛星探測器增加了無與倫比的精度水平，並提高了EDS和WDS的速度。總體而言，PHILIPS/FEI Tecnai G2 F20 UT D214是一種無與倫比的掃描電子顯微鏡，用於完成無數的成像和分析任務。其集成的DualBeam™和FIB/ESEM功能允許進行高級地形成像，而其能量/波長色散光譜則允許進行元素分析和識別。FEI Tecnai G2 F20 UT D214具有高分辨率掃描功能和強大的分析功能,是各種研究應用的通用選擇。